Chongqing Leeb Instrument Co. , Ltd

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Probador no ferroso del espesor del film de la punta de prueba con la función de ajuste del límite

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Chongqing Leeb Instrument Co. , Ltd
Ciudad:chongqing
Provincia / Estado:chongqing
País/Región:china
Persona de contacto:Leeb Team
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Probador no ferroso del espesor del film de la punta de prueba con la función de ajuste del límite

Preguntar último precio
Number modelo :Leeb252A
Lugar del origen :China
Cantidad de orden mínima :1 sistema
Condiciones de pago :T/T, Paypal, Western Union, L/C
Capacidad de la fuente :500 sistemas por mes
Plazo de expedición :En 7-10 días del trabajo
Detalles de empaquetado :Caja del equipo
Nombre :Indicador del espesor del film
Uso :en el metal ferroso y no ferroso
Principio :Método de la corriente de Foucault magnética y
Punta de prueba :Cambiable
Resolución (µm) :0,1
Memoria :200 grupos
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Probador no ferroso del espesor del film de la punta de prueba con la función de ajuste del límite

 

Función de ajuste plástica cambiable del límite de Shell Coating Thickness Gauge With de la punta de prueba ferrosa y no ferrosa

 

 
Funciones y características
 

Puntas de prueba de alta calidad del metal.
●Dos métodos de medida: continuo y solo;
●Modo de trabajo dos: directo y lote;
●Función de ajuste del límite.
●Interruptor apagado automáticamente o manualmente.

 

 

Materiales de medición
 
Eddy Current (NFe): Midiendo el grueso de la capa No-conductora en el substrato no magnético del metal, tal como caucho, plástico, pintura, óxido en la base del aluminio, cobre, cinc, lata.

 


Parámetros técnicos

 

Parámetros técnicos
Modelo no. Leeb252A
Principio de medición
FE o NFe
Gama de medición (µm) los 0~1250μm
Punta de prueba
Cambiable
Shell Plástico
Exactitud ± (1~3%H+1) μm; H refiere al grueso de la muestra
Resolución mínima (µm) los 0.1μm
Curvatura mínima del área mínima (milímetros) Convex1.5 Concave9
Diámetro del área mínima (milímetros) Φ7
Grueso crítico del substrato (milímetros) 0,5
Memoria 200 grupos midieron datos
Dimensiones 115*55*23m m
Fuente de alimentación
Pila alcalina AAA
Configuración estándar
Unidad principal, 1 punta de prueba y substrato
5 especímenes de la calibración (los 48.5μm, los 99.8μm, los 249μm, los 513μm 1024μm),
Accesorios opcionales
Puntas de prueba, especímenes, 1 envoltura de cuero

 

 
Condiciones de medición
 
a) Las características del substrato
Los métodos estándar para el substrato magnético de propiedades magnéticas y la aspereza superficial deben ser similares a las propiedades magnéticas y a la aspereza superficial del substrato de los especímenes.
Para el método de la corriente de Foucault, el substrato estándar de propiedades eléctricas debe ser similar a las propiedades eléctricas del substrato de los especímenes.
b) El grueso del substrato
Compruebe si el grueso del substrato es más bajo que el grueso mínimo, si no, puede utilizar uno del método en 3,3 para calibrar.
c) Efecto de borde
No debe estar en los lugares el cambio de la forma del espécimen, tales como bordes, agujeros, y el lugar tal como medida del ángulo.
d) La curvatura
No debe estar en la medida superficial curvada de los especímenes.
e) Medida y épocas medidas
Generalmente como resultado de medida del instrumento el resultado no es lo mismo cada vez, así que debemos en cada área de varios resultados de la medida. El grueso de capa y el grado áspero superficial de diferencias locales, requieren en cualquier medida repetida en un área específica.
limpieza superficial de f)
Antes de la medida, deben quitar atado en la superficie de un material, tal como polvo, la grasa y los productos de corrosión, pero no quitan ningún material de recubrimiento.

 


Caja de alta calidad del equipo:
 
Probador no ferroso del espesor del film de la punta de prueba con la función de ajuste del límite
 
 

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