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Detalles rápidos:
| Voltaje entrado (V): | 3V |
| Garantía (año): | de dos años |
| Tipo: | Smd llevó el microprocesador 3014 |
| Iluminación de servicio de las soluciones: | Iluminación y diseño del conjunto de circuitos |
| Eficacia luminosa (lm/w): | 150lm/w |
| Vida útil (horas): | 50000 |
| Hora laborable (horas): | 20000 |
| Chip Material: | INGAN |
| Emisión de color: | 6000-6500K |
| Poder: | 0.2W |
| Ángulo de visión (°): | 120 grados |
| Índice de representación de color (Ra): | 70 |
| Bolso que embala: | 220*240nm |
| Lugar del origen: | Suzhou, Jiangsu |
| Uso: | contraluz del coche |
| Tipo del paquete: | Paquete del soporte de Suface |
| Corriente delantera: | 60MA |
| Tamaño: | 3.0*1.4*0.65m m |
| Embalaje: | 4000 PC/rollo |
Especificación de producto:
Estructura del paquete

Grados máximos absolutos
| Parámetro | Símbolo | Condición de prueba | Minuto | Tipo | Máximo | Unidad |
| Voltaje delantero | VF | IF=60mA | 2,7 | - | 3,3 | V |
| Flujo luminoso | ф | IF=60mA | 24 | - | 26 | LM |
| Temperatura de color | CCT | IF=60mA | 2500 | - | 6500 | K |
| Corriente reversa | VR | VR=7V | 0 | μA | ||
| Color que arranca índice | Ra | IF=60mA | 80 | - | ||
| Ángulo de visión | 2θ1/2 | IF=60mA | 120 | grado | ||
Curvas de características electrópticas típicas:

Lista de pruebas de la confiabilidad del LED
| Artículo de la prueba | Condiciones de prueba | Estándar | Qty (PC) |
| Prueba de vida | 25℃, 1000Hrs@60mA | / | 20 |
| Temperatura alta | 85℃, 1000Hrs@60mA | / | 20 |
| Baja temperatura | -40℃, 1000Hrs@60mA | / | 20 |
| Calor de la humedad alta |
85℃, 85%RH, 1000Hrs@60mA |
/ | 20 |
| Almacenamiento de la baja temperatura | -40℃, 1000Hours |
JEITA ED-4701 200 202 |
20 |
| Almacenamiento de alta temperatura | 100℃, 1000Hours |
JEITA ED-4701 200 201 |
20 |
| Ciclo de la temperatura | (- 40' C 30mins --25' C (5mins)--100 ' C (30mins), tarifa cambiante de los temporeros: 3+/-0.6' C/min) |
JEITA ED-4701 100 105 |
20 |
| Choque termal | -40 ' C (15mins) --100 ' C (15mins), tiempo cambiante <5mins> | MIL-STD-202G | 20 |
| Prueba de vida del pulso | Tp=1ms, DC=0.1, D=Tp/T @ 3×60mA | / | 20 |
| Prueba del ESD (HBM) | prueba 3times de 2000V, de 200V/Step, delantera y reversa |
AEC (Q101-001) |
20 |
| Resistencia que suelda |
260±5℃, 10S, 3times Tratamiento previo 30℃, 70%RH |
JEITA ED-4701 300 302 |
20 |
| Decaimiento del flujo IV |
260±5℃, 10S, 1time Tratamiento previo 30℃, 70%RH, 168Hours |
/ | 20 |
Proceso de producción:
