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LUZ INTERIOR de los BULBOS de la TIRA del MICROPROCESADOR del PCT SMD LED de 3V 60MA 0.2W 2835 26-28LM 3000K
1.Product Freatures
. Eficacia de 140 lm/W típicos para 3000K, 80CRI
. Adopte el microprocesador y el marco, buena estabilidad antiestática de la buena calidad ultra de poca atenuación
. Alto brillo, representación de alto color de poca atenuación
. Opciones del CRI del mínimo 70, 80, 90 y 95
. Soldadura fuerte y buena luz de los undead de la estabilidad
. Serie de productos y logotipo de la compañía en el frente
. Certificación del CE ROHS LM80
. Ángulo de visión: 120 grados
el soldar sin plomo obediente de .RoHS compatible
estructura 2.Package
Unidad: milímetro de tolerancia: +/-0.1mm
especificación 3.Product
Artículo | Especificación | Material | Cantidad |
Microprocesador | InGaN | InGaN | 1 en 1 |
Reflector ( | Blanco | PPA | |
Capítulo | C2680 | Cobre plateado | |
Alambre del oro | 0.9mil | ALEACIÓN | |
Fósforo | Amarillo | YAG | |
Encapsulant | MilkyWhiteIte | Resina | |
Cinta del portador | Según espec. del EIA 481-1A | Cinta negra conductora | 4000pcs por carrete |
Carrete | Según espec. del EIA 481-1A | Negro conductor | |
Etiqueta | Estándar de Repsn | Papel | |
Bolso que embala | 220x240m m | Ninguno-cremallera laminada de aluminio del bolso | Un bolso del carrete uno |
Cartón | Estándar de Repsn | Papel | No-especificado |
curvas de características electrópticas 4.Typical
Lista de pruebas de la confiabilidad 5.LED
Artículo de la prueba
| Condiciones de prueba
| Estándar
| Qty (PC)
|
Prueba de vida
| 25℃, 1000Hrs@60mA | / | 20 |
Temperatura alta
| 85℃, 1000Hrs@60mA | / | 20 |
Baja temperatura
| -40℃, 1000Hrs@60mA | / | 20 |
Calor de la humedad alta
| 85℃, 85%RH, 1000Hrs@60mA | / | 20 |
Almacenamiento de la baja temperatura
| -40℃, 1000Hours | JEITA ED-4701 200 202 | 20 |
Almacenamiento de alta temperatura
| 100℃, 1000Hours | JEITA ED-4701 200 201 | 20 |
Ciclo de la temperatura
| (- 40' C 30mins --25' C (5mins)--100 ' C (30mins), tarifa cambiante de los temporeros: 3+/-0.6' C/min) | JEITA ED-4701 100 105 | 20 |
Choque termal
| -40 ' C (15mins) --100 ' C (15mins), tiempo cambiante <5mins> | MIL-STD-202G | 20 |
Prueba de vida del pulso
| Tp=1ms, DC=0.1, D=Tp/T @ 3×60mA, 1000Hours | / | 20 |
Prueba del ESD (HBM)
| prueba 3times de 2000V, de 200V/Step, delantera y reversa | AEC (Q101-001) | 20 |
Resistencia que suelda | 260±5℃, 10S, 3times Tratamiento previo 30℃, 70%RH | JEITA ED-4701 300 302 | 20 |
Decaimiento del flujo IV
| 260±5℃, 10S, 1time Tratamiento previo 30℃, 70%RH, 168Hours | / | 20 |