Nece-Scope Int'l Co., Limited

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Manufacturer from China
Miembro activo
9 Años
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Observación opcional invertida de DIC del PDA de Digitaces de la etapa ancha óptica del microscopio

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Nece-Scope Int'l Co., Limited
Ciudad:shenzhen
Provincia / Estado:guangdong
País/Región:china
Persona de contacto:MsIvy Su
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Observación opcional invertida de DIC del PDA de Digitaces de la etapa ancha óptica del microscopio

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Número de modelo :NCM-M5000
Lugar del origen :China
Cantidad de orden mínima :1set
Condiciones de pago :T / T, Western Union
Capacidad de la fuente :2000sets por mes
Detalles de empaquetado :El cartón, o como clientes requiere
modelo :NCM-M5000
Ocular :WF10X/22
Visera del yelmo :quíntuplo
Objetivo :Plan infinito 5X/acromático 10X/20X/50X/100X de LWD
Etapa :226X178m m
Cabeza de la visión :Siedentopf binocular, 30° inclinado
Concentración :División fina los 2μm
Función :La observación de DIC es opcional
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Observación opcional invertida BF/DF NCM-M5000 de DIC de la etapa ancha óptica metalúrgica del microscopio

 

Descripción
 

 

Los microscopios ópticos metalográficos permiten que el usuario vea los artículos opacos en la alta ampliación con la luz reflejada y transmitida, que se utilizan para una variedad de usos de la especialidad tales como fabricación de la oblea de silicio del semiconductor, inspección y control de calidad como la inspección del tamaño de grano, las inclusiones y los defectos superficiales, cristalografía, y análisis de los bastidores de arena en fundiciones del metal del hierro.
Pueden también ser utilizados para el análisis e identificación metálica de la microestructura del grano, medida de películas finas, las capas de electrochapado, análisis microscópico de superficies opacas, estudio de las herramientas y de los artefactos prehistóricos de la Edad de Piedra, preservación histórica, el estudio de la metalurgia, y análisis de la pátina del metal.


Nuestros microscopios metalúrgicos están disponibles en binocular y los modelos trinocular con los sistemas verticales, invertida y del auge del soporte del microscopio, mientras que la distancia de funcionamiento larga NCM-M5000 invirtió la estructura estable del soporte de las características ópticas metalúrgicas del microscopio, diseño avanzado de la etapa y operación cómoda, con el ocular ancho WF 10X/22 del campo y el objetivo acromático 5×/0.12/∞/- (BF/DF) LWD 10m m10×/0.25/∞/- (BF/DF) LWD 10m m20×/0.4/∞/0 (BF/DF) LWD 5m m, 50×/0.75/∞/0 (BF/DF) LWD 1.3m m, 100×/0.9/∞/0 (BF/DF) LWD 0.7m m, LWD del plan infinito del campo brillante u oscuro puede identificar y analizar no sólo una variedad de metales, de aleaciones, de material no-metálico y la estructura de organización y los circuitos integrados, pero también las micropartículas,

alambres, fibras, capa superficial y así sucesivamente. Las cámaras digitales se pueden añadir al tubo trinocular para tomar imágenes y para hacer análisis de imagen.

 

La observación de DIC es opcional.

 
Especificación:

 

 

    NCM-M5000
Sistema óptico Sistema óptico infinito
Ocular ancho adicional del campo EW10×/22
Ocular EW10×/20 con la escala del pelo cruzado
EW15×/16
EW20×/12
Plan infinito de LWD
Objetivo acromático
5×/0.12/∞/- (BF/DF) LWD 10m m
10×/0.25/∞/- (BF/DF) LWD 10m m
20×/0.4/∞/0 (BF/DF) LWD 5m m
50×/0.75/∞/0 (BF/DF) LWD 1.3m m
100×/0.9/∞/0 (BF/DF) LWD 0.7m m
Cabeza de la visión Cabeza binocular de la visión de Siedentopf, inclinada en 30°, Interpupillary 48mm-75m m

Luz de incidente de Kohler
Luz, centro y brillo del halógeno 12V/50W ajustables
Polarizador y analizador
DIC
vidrio verde, azul, amarillo, gris y de tierra incorporado
Concentración Ajuste grueso y fino coaxial, división fina los 2μm,
Visera del yelmo Visera del yelmo quíntupla posterior
Etapa Etapa mecánica 226×178m m, gama móvil 40mm×40m m de la capa doble
Etapa Φ16, Φ40, lágrima
Accesorios Presser del espécimen
Foto/accesorio video
escala 0.01m m del micrómetro de 0.01m m
Objetivo del ajuste de la casa de lámpara

 

Nota: equipo del ●Standard, ○Optional

 

Muestras y espécimen opcional Presser:

Observación opcional invertida de DIC del PDA de Digitaces de la etapa ancha óptica del microscopio

Observación opcional invertida de DIC del PDA de Digitaces de la etapa ancha óptica del microscopio

 

 
 
Carro de la investigación 0