Inspección coaxial NCL-600 del microscopio LCD/COG de la pantalla LCD de Lens&Light 3X-600X del enfoque
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1. Ajuste de continuación del campo visual 2. alta profundidad del campo, lente Parfocalization 3. sigue habiendo la posición central y la definición sin cambiar (Parfocalization), al continuar ajuste el múltiplo del enfoque. 4. distancia de funcionamiento larga estupenda de 30m m 5. Con la estructura modular y la expansibilidad flexible |
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1. Ampliamente utilizado para la inspección de la microestructura del chip de silicio grande 2. análisis de la estructura desnuda de IC y la inspección de la muestra defectuosa 3. liquidación de ITO del módulo del LCD y de la observación del DIENTE 4. observación y análisis de la estructura metalográfica 5. Micro-observación del material reflexivo 6. espectador manual opcional 2D/3D para examinar la gota de la soldadura de SMT

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| Gama de enfoque |
0.3X-2.2X |
| Ratio de enfoque |
1:7 |
| Dispositivo coaxial |
lente objetiva 3X |
| Acoplador |
1X |
| Luz del punto |
3W, brillo ajustable,
Fuente de alimentación: AC90-240V,
Voltaje de salida: DC 12V/0.5A
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| Resolución mínima |
el 1μm |
| Ampliación total |
3X-600X (17" exhibición, 1/3" CCD) |
| Distancia de funcionamiento |
30m m |
| C-soporte |
interfaz del C-soporte 1X |
| Soporte blanco del poste |
Grueso/el ajustar con la unidad de la escala es los 2μm |
| Modelo |
HDM-600 |
| N.A. |
0.025−0.118 |
| Res. (lp/mm) |
75−352 |
| Mag. |
1.05X−7.35X |
| D.O.F. (milímetro) |
0.88−0.04 |
| W.D. (milímetro) |
30 |
| F.O.V. (milímetro) el 1/2” |
7.6−1.1 |
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Muestra:

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