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Chip de memoria flash equipo de prueba inteligente tamaño compacto

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Ciudad:dongguan
Provincia / Estado:guangdong
País/Región:china
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Chip de memoria flash equipo de prueba inteligente tamaño compacto

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Number modelo :HD-N8-NAND
Lugar del origen :China
Cantidad de orden mínima :1set
Condiciones de pago :L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidad de la fuente :150 sistemas/meses
Plazo de expedición :8 días después de la orden
Detalles de empaquetado :Caso de madera fuerte
Gama de temperaturas de funcionamiento :-30ºC~150ºC
Gama de temperaturas de almacenamiento :-20ºC~60ºC
Gama de humedad de funcionamiento :el 45%~75%
Tamaño del equipo :W400×H510×D520mm
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Memoria Flash Chip Intelligent Test System

Descripción de producto:

  1. El sistema de prueba elegante YC-N8-NAND es un sistema de prueba completo de memoria Flash que se puede modificar para requisitos particulares para probar hasta 8 partículas de destello paralelamente.
  2. Apoya una amplia gama de modelos de prueba y de parámetros modificados para requisitos particulares de la prueba. Proporciona un flujo básico de la prueba del uno-tecleo, una prueba experimental altamente flexible, y flujo avanzado de la prueba, y puede él proporciona el flujo básico de la prueba del uno-tecleo, la prueba experimental altamente flexible y el flujo avanzado de la prueba, que pueden realizar diversas pruebas funcionales tales como predicción de la vida que sigue habiendo, la prueba real, retención de los datos y leer el disturbio de las partículas de memoria Flash. El informe de prueba se puede exportar de manera rápida y fácil después de la realización de la prueba. Proporciona los datos de prueba gráficos más intuitivos para proporcionar la referencia más exacta para la clasificación y el uso de destello de la partícula. También proporciona la referencia más exacta para la clasificación y el uso de destello de la partícula y permite la clasificación inteligente basada en resultados de la prueba de destello de la calidad de la partícula.


Especificaciones de producto:

  1. Probado por JEDEC coloque no. 218: Requisitos de la impulsión de la asociación B-2016 de la tecnología (SSD) y prueba de resistencia de estado sólido de estado sólido Motho;
  2. Base de la prueba que sigue no. estándar 47 NVCE de JEDEC: Calificación de estado sólido de la tensión-TestDriven de la asociación de la tecnología de circuitos integrados;
  3. Especificaciones del diseño del tablero de prueba para cumplir requisitos del ambiente de la temperatura de la prueba del industrial-grado;


Especificaciones técnicas:

Propiedades físicas
Tamaño del equipo W400×H510×D520mm
Método de la fuente de alimentación CA
Gama del voltaje de funcionamiento Tierra de dos hilos V de la CA (el 220±10%) + protectora monofásica
Consumo de energía de trabajo normal 2KW
Gama de temperaturas de funcionamiento -30ºC~150ºC
Gama de temperaturas de almacenamiento -20ºC~60ºC
Gama de humedad de funcionamiento el 45%~75%
Funcionamiento de sistema
Número de partículas que se pueden probar paralelamente 1~8 PC
Marcas de destello apoyadas para probar SLC, MLC, TLC, SanDisk, etc. del micrón, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, SanDisk, etc, tipo partículas de QLC de microprocesador de NAND Flash (se está prolongando la gama)
Los tamaños del paquete apoyaron BGA152, BGA132 (extensiones de encargo disponibles)
Tipos de protocolo de destello apoyados Partículas del interfaz de ONFI/toggle
Voltaje apoyado Ayuda V1.2, V1.8 del hardware opcional
Gama apoyada del tirón-Apagado del voltaje El software support puede ser vcc2.3~3.6 ajustado
vccq1.2 1.15~1.25
vccq1.8 1.70~1.95
Apoya gamas de prueba opcionales Ajustes individuales por el número de bloques el comenzar, el intervalo del inter-bloque, el número de ciclos, el tiempo de la prueba, el etc.
Modelo de la ayuda El 0, el 1, los 5, rejilla pseudoaleatoria, del tablero de damas, línea de palabra al azar, etc.
Ayuda para los tipos del comando de la prueba Inspección de la información de memoria Flash
Prueba de funcionamiento de memoria Flash
Prueba y predicción de la vida
Clasificación de la clase de la calidad
Prueba de interferencia de los datos
Prueba de la retención de los datos
Función de la Lectura-recomprobación
Prueba y predicción del curso de la vida
Arreglo para requisitos particulares del ECC
Velocidad de la prueba paralela Como ejemplo de una prueba duradera de la base de la pelotilla de Wellington:
Modo equilibrado: 128GB *8 granula aproximadamente 1 hora
Modo completo: 128GB*8 granula aproximadamente 2 horas
Modo de alta velocidad: 128GB*8 granula aproximadamente 20 minutos
Módulo inteligente de la prueba Pruebas básicas
Pruebas experimentales
Pruebas avanzadas


Nuestra introducción de la compañía:
El HAIDA INTERNACIONAL es fabricante profesional de diversas clases de equipos de prueba durante 24 años. Los productos del HAIDA son ampliamente utilizados en los productos de papel, empaquetando, la impresión de tinta, las cintas adhesivas, los bolsos, calzado, los productos de cuero, el ambiente, juguetes, productos del bebé, hardware, productos electrónicos, productos plásticos, productos y otras industrias, y aplicable de goma a todas las unidades de investigación científica, instituciones de la inspección de la calidad y campos académicos.

Chip de memoria flash equipo de prueba inteligente tamaño compacto

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