DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD
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Instrumento de difracción de escritorio Máquina difractómetro XRD de sobremesa de alta calidad
1. Introducción del producto
Diseñado para la producción industrial y el control de calidad, tecnología avanzada para la producción de difractómetros de rayos X concentrados, difractómetros de rayos X de sobremesa funcionales y miniaturizados. Puede realizar con precisión análisis cualitativos, análisis cuantitativos y análisis de estructura cristalina tanto en muestras metálicas como no metálicas. Es especialmente adecuado para las industrias manufactureras de productos como catalizadores, dióxido de titanio, cemento y productos farmacéuticos.
2. Parámetro del producto
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Potencia de funcionamiento |
600W (40kV, 15mA) o 1600W (40kV, 40mA), estabilidad:< 0.005% |
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Tubo de rayos X |
Tubo de rayos X de cerámica metálica, objetivo de Cu, potencia 2,4KW, tamaño del foco: 1×10 mm, refrigerado por aire o refrigerado por agua (caudal de agua superior a 2,5 l/min) |
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Goniómetro |
Se adopta la tecnología de codificación óptica a nivel de muestra y servomotores para impulsar la rotación de θs y θd |
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Método de medición |
Continuo, paso a paso, Omg |
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Rango de medición de ángulo |
- 3 °- 150 ° |
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Ancho de paso mínimo |
0.0001 ° |
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Reproducción de ángulo |
0.0005 ° |
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Velocidad de posicionamiento angular |
1500°/min |
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Detector |
Conteo de procesamiento de pulsos digitales o detector de matriz de semiconductores |
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Rendimiento de conteo |
1×107CPS, 9×107CPS |
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Resolución del espectro de energía |
≤25% o ≤1keV |
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Computadora |
Portátil empresarial |
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Software de control del instrumento |
Sistema operativo Windows10, controla automáticamente el voltaje del tubo, la corriente del tubo, el interruptor de fotos y el entrenamiento de envejecimiento del tubo de rayos X del generador de rayos X. Controle el goniómetro para escanear de forma continua o paso a paso, y recopile simultáneamente datos de difracción. Procesamiento convencional de datos de difracción: búsqueda automática de picos, búsqueda manual de abejas, intensidad de integración, altura de pico, centro de gravedad, sustracción de fondo, suavizado, magnificación de la forma del pico, comparación de espectros, etc. |
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Software de procesamiento de datos |
Análisis cualitativo de fase, análisis de posición fija, Kα1, α2 exfoliación, ajuste de espectro completo, ajuste de selección de pico, cálculo de ancho a media altura y tamaño de grano, determinación de celda unitaria, cálculo de tensión de Clase II, indexación de línea de difracción, trazado múltiple, trazado 3D, calibración de datos de difracción, sustracción de fondo, análisis cuantitativo sin calibración, ajuste de espectro completo (WPF), simulación de espectro de difracción XRD y otras funciones. |
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Protección de línea dispersa |
Plomo + vidrio plomado protección, la ventana de la puerta de luz está conectada al dispositivo de protección, y la línea de dispersión se calcula que no es superior a 1μSv/h |
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Estabilidad integral del instrumento |
≤0.5% |
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Datos de ablandamiento único de la muestra |
Configure el cambiador de muestras, con un máximo de 6 muestras cargadas cada vez |
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Dimensiones externas del instrumento |
580×450×680 (L×W×H) mm |