DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD
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Probador de permitividad ASTM D 150 Cerámicas Compuestos Medidor de constante dieléctrica
1.Descripción:
El sistema de prueba de constante dieléctrica y pérdida dieléctrica de materiales aislantes de alta frecuencia LRTD consta de un dispositivo de prueba (accesorio de sujeción), un medidor Q de alta frecuencia, adquisición de datos y control de medición automático tanδ (módulo de software incorporado en LRTD) y un inductor. Está diseñado y fabricado de acuerdo con las normas nacionales GB/T 5594.4-2015 "Métodos de prueba para el rendimiento de materiales cerámicos estructurales de componentes electrónicos - Parte 4: Métodos de prueba para la constante dieléctrica y el valor de la tangente de pérdida dieléctrica", GB/T 1693-2007 "Determinación de la constante dieléctrica y el valor de la tangente de pérdida dieléctrica del caucho vulcanizado", GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, la norma estadounidense ASTM D150 y la Comisión Electrotécnica Internacional IEC 60250. El sistema proporciona la mejor solución para la medición automática del valor de la tangente de pérdida dieléctrica de alta frecuencia (tanδ) y la constante dieléctrica (ε) de los materiales aislantes. El dispositivo de prueba de este instrumento está compuesto por un condensador plano, que generalmente se utiliza para sujetar la muestra probada y está equipado con un medidor Q como instrumento indicador. El valor de la tangente de pérdida dieléctrica del material aislante se calcula mediante el cambio en el valor Q y la lectura de la escala de espesor cuando la muestra probada se coloca en el condensador plano y cuando no se coloca. El uso del medidor Q digital LRTD permite el cálculo automático de la constante dieléctrica (ε) y la pérdida dieléctrica (tanδ).
2.Configuración:
Incluye 1 host de prueba LRTD-C, 1 accesorio de muestra y 1 juego de inductores (10 piezas). Hay disponible una copa de líquido opcional para probar materiales líquidos.
3.Parámetro técnico
Composición del sistema del sistema de prueba de constante/pérdida dieléctrica LRTD:
Unidad principal: Medidor Q de alta frecuencia
| Categoría de característica | Parámetro | Especificación / Valor | Notas |
| Fuente | Tipo de fuente de señal | Señal sintetizada digitalmente DDS | |
| Rango de frecuencia | 100 kHz - 160 MHz | ||
| Relación de cobertura de frecuencia | 16000:1 | ||
| Precisión de frecuencia | 3 × 10⁻⁵ ±1 cuenta (6 dígitos significativos) | ||
| Muestreo | Precisión de muestreo | 12-BIT | Garantiza la estabilidad de Q y la estabilidad de prueba de materiales de baja Df |
| Medición Q | Rango de medición Q | 1 - 1000 | Rango automático/manual |
| Resolución Q | 0.1 (4 dígitos significativos) | ||
| Error de medición Q | < 5% | ||
| Medición de inductancia (L) | Rango de medición L | 1 nH - 140 mH | Resolución 0.1 nH (4 dígitos significativos) |
| Error de medición L | < 3% | ||
| Condensador de sintonización | Rango de capacitancia principal | 17 pF - 240 pF | Estructura monolítica plateada en plata de alta precisión |
| Búsqueda automática de capacitancia | Sí | Con motor paso a paso | |
| Rango de medición C directo | 1 pF ~ 25 nF | ||
| Error del condensador de sintonización | ±1 pF o < 1% | ||
| Resolución del condensador de sintonización | 0.1 pF | ||
| Resonancia | Búsqueda de punto de resonancia | Escaneo automático | |
| Características Q | Rango preestablecido de aprobación/falla Q | 5 - 1000 | Indicación audible/visual |
| Conmutación de rango Q | Automático/Manual | ||
| Pantalla (LCD) | Parámetros mostrados | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Factor de calidad, Lt/Ct=sintonizado, tn=?, Σr=R en serie? |
| Características únicas | Deducción automática de inductancia residual | Sí | Inductancia residual e inductancia de plomo (Único) |
| Visualización directa de gran capacitancia | Sí | Hasta 25 nF (Único) | |
| Prueba de materiales | Precisión del factor de disipación (Df) | 0.01% (1/10,000) | |
| Precisión de permitividad (εᵣ) | 0.1% (1/1,000) | ||
| Rango de espesor del material | 0.1 mm - 10 mm | ||
| Visualización de permitividad | Directamente en LCD | ||
| Visualización del factor de disipación | Directamente en LCD | ||
| Rango de frecuencia de prueba de permitividad | 100 kHz - 100 MHz |
Dispositivo de prueba de constante dieléctrica εr y factor de pérdida dieléctrica tanδ:
| Característica | Especificación | Notas | |
| Muestras sólidas | Diámetro de medición | Ø 38 mm | |
| Rango de espesor | Ajustable, < 15 mm | Rango típico | |
| Placas de electrodos | Personalizable | (Personalización opcional) |
Inductores
| No. | Inductancia (L) | Precisión | Factor Q ≥ | Aprox. Capacitancia distribuida (Cd) | Rango de frecuencia de resonancia (MHz) | Frecuencia recomendada para la prueba de permitividad |
| 1 | 0.1 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0.5 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
| 3 | 2.5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 1.5 MHz |
| 6 | 100 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.34 - 1.02 | 0.5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.148 - 0.39 | 0.25 MHz |
| 9 | 10 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
| 10 | 14 nH | ±5% | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |