SEM, EM8000F Std FEG SEM, Resoluciones 1.5nm@15KV (SE) EM8000 es el primer microscopio electrónico de barrido Schottky en China que se lanzó en 2014, recibió una serie de comentarios positivos del mercado, especialmente de clientes de la Universidad.
Con el sistema operativo Muti-language, el panel de control remoto integrado con trackball, el completo plan de servicio postventa con soporte técnico de por vida, disfruta de la buena reputación entre los clientes.
Como KYKY, con más de 60 años de experiencia en la fabricación de SEM, toda la serie EM es compatible con el antiguo sistema renovado y personalizado como SEM +, como remodelación de litografía por haz de electrones, remodelación de haz de iones Focus, integrado con STM, AFM, etapa de calefacción, etapa de crio, etapa de tensión; Micro-nano manipulador, etc. El sistema también tiene una interfaz múltiple en la cámara para conectar la mayoría del detector de análisis en el mercado.
EM8000 es el primer microscopio electrónico de barrido Schottky en China que se lanzó en 2014, recibió una serie de comentarios positivos del mercado, especialmente de clientes de la Universidad.
Ventajas:
◆ Pistola Schottkyelectron, alto brillo, buena monocromaticidad, punto de haz pequeño, larga vida útil
◆ Corriente de haz estable, baja propagación de energía
◆ Bajo vacío disponible
◆ Interfaz de operación fácil, conveniente y amigable
◆ Dos años sin récord
Presupuesto:
| ít | KYKY-EM8000F Std FEG SEM |
| Resolución | 1.5nm@15KV (SE) 3nm @ 20KV (BSE) |
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| Aumento | 15X ~ 800000X |
| Pistola de electrones | Schottky Field Emission Electron Gun |
| Acelerando voatage | 0 ~ 30kV |
| Sistema de vacío | Bomba Ion; Bomba Turbo Molecular; Bomba Mecánica |
| Detector | ◆ Detector de electrones secundarios de alto vacío (con protección del detector) |
| ◆ Detector de dispersión trasera de cuatro segmentos de semiconductores |
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| Etapa del espécimen | Fase motorizada eucéntrica de cinco ejes. |
| Viajar | X | 0 ~ 80 mm |
| Distancia | Y | 0 ~ 50 mm |
| Z | 0 ~ 30 mm |
| R | 360 ° |
| T | -5 ° ~ 70 ° |
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| Diámetro máximo del espécimen | 175 mm |
| Accesorios | Detector de rayos X (EDS), EBSD, CL, WDS, máquina de revestimiento, etapa de gran tamaño, etc. |
| Modificación | EBL; STM; AFM; Etapa de calentamiento; Etapa de crio; Etapa de tracción; Manipulador micro-nano; Máquina de recubrimiento SEM +; Láser SEM + |
