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Zócalo del módulo de la cámara

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El lector de memoria está apagado

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conexión de prueba de memoria

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Sireda Technology Co., Ltd.

Ciudad:shenzhen

País/Región:china

Persona de contacto:MrWang

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Zócalo de prueba BGA de alto rendimiento Soluciones de prueba de circuitos integrados personalizadas

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Canal de vídeo

Número de modelo :Top abierto

Lugar de origen :PORCELANA

Cantidad mínima de pedido :1

Paso :≥0.3mm

Recuento de alfileres :2-2000+

Paquetes compatibles :BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP

Tipo de zócalo :Top abierto

Tipo de conductor :Pins de sonda, Pogo Pin, PCR

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Sockets de prueba BGA - Soluciones personalizadas para pruebas de circuitos integrados

Amplio rango de sonido: 0,3 mm a 1,5 mm para todos los tipos de envases BGA
Soporte de alta y baja temperatura: -55°C a +140°C (combustión y validación)
Diseños múltiples: cubierta abierta, con caparazón, ATE, CT;
Todas las necesidades de prueba: Incendio, pruebas funcionales, programación
Persistente: más de 50.000 ciclos, alta fiabilidad

Personalización rápida- ¡Cuéntanos sus requisitos, obtén un enchufe de prueba perfecto!

Conector de prueba BGA personalizado: Especificaciones básicas

Propiedad	Parámetro	Valor típico
Mecánica	Ciclos de inserción	Ciclos ≥ 30K ∼ 50K
	Fuerza de contacto	20-30 g/pin
	Temperatura de funcionamiento	Comercial -40 ~ +125 Militar -55 ~ +130
	Las normas de seguridad	± 0,01 mm
Eléctrico	Resistencia de contacto	Se aplican las siguientes medidas:
	Impedancia	50Ω (± 5%)
	En la actualidad	1.5A ~ 3A

Soluciones de enchufes de prueba BGA Pruebas de precisión para aplicaciones exigentes

Ya sea que esté validando prototipos, programando circuitos integrados o ejecutando pruebas de producción de gran volumen, nuestros enchufes de prueba BGA personalizados aseguran precisión y repetibilidad.Nuestros enchufes cuentan con diseños mecánicos robustos para evitar la deformación bajo tensión térmica mientras se mantiene la resistencia de contacto estableCompatibles con los controladores y probadores automatizados, agilizan su proceso de validación y reducen el tiempo de inactividad.

Carro de la investigación 0