Soquetes de ensayo multi-DUT para ensayos de circuitos integrados paralelos de alto volumen
- Aumentar el rendimiento y reducir los tiempos de ciclo con nuestros Multi-DUT Test Sockets, diseñados para probar simultáneamente múltiples IC en entornos automatizados.y validación de la producción, estos enchufes soportan pruebas paralelas de 4, 8 o 16+ dispositivos - mejorando dramáticamente la eficiencia de la memoria, lógica y chips RF.
Ventajas clave de las pruebas automatizadas con varios dispositivos:
- Pruebas paralelas de alta densidad- Validar múltiples matrices/unidades en una sola inserción
- Probe y compatibles con el elastómero- Soporta sondas verticales, pines pogo e interfaces de película conductora anisotrópica (ACF)
- Integridad de la señal optimizada- Baja transmisión transversal y vías de impedancia combinadas (variación < 0,5Ω)
- El operador/probador está listo.- Funciona con los probadores Teradyne, Advantest y STS.
Ya sea para flash NAND, MCU automotrices o módulos de RF 5G, nuestros enchufes Multi-DUT garantizan un contacto repetible y de alta fuerza al tiempo que reducen los costos de prueba por unidad.Solicite una configuración personalizada --nuestros ingenieros pueden adaptar los diseños a su matriz de dispositivos.
Características y ventajas clave:
- Durabilidad superior - Construido para pruebas de alto ciclo con materiales robustos que soportan miles de inserciones
- Compatibilidad general- Soporta BGA, QFN, SOP y otros paquetes de IC
- Tecnología de contacto de precisión- sondas de resorte de baja resistencia para conexiones eléctricas fiables
- Configuraciones personalizadas- Instalaciones de ensayo adaptadas a los diseños de circuitos integrados únicos y a los requisitos de ensayo
- Opciones térmicas y de alta frecuencia- Enchufes especializados para pruebas de combustión, alta temperatura y RF
Para más opciones o solicitudes personalizadas, vea los detalles a continuación o póngase en contacto con nuestros ingenieros.
Socket de prueba personalizado: especificaciones básicas
| Propiedad |
Parámetro |
Valor típico |
| Mecánica |
Ciclos de inserción |
Ciclos ≥ 30K-50K |
| Fuerza de contacto |
20 a 30 g/pin |
| Temperatura de funcionamiento |
Comercial -40 ~ +125
Militar -55 ~ +130 |
| Las normas de seguridad |
± 0,01 mm |
| Eléctrico |
Resistencia de contacto |
Se aplican las siguientes medidas: |
| Impedancia |
50Ω (± 5%) |
| En la actualidad |
1.5A ~ 3A |
Soluciones de enchufes de prueba de IC - Pruebas de precisión para aplicaciones exigentes
Ya sea que esté validando prototipos, programando circuitos integrados, o ejecutando pruebas de producción de gran volumen, nuestras tomas de prueba personalizadas aseguran precisión y repetibilidad.Nuestros enchufes cuentan con diseños mecánicos robustos para evitar la deformación bajo tensión térmica mientras se mantiene la resistencia de contacto estableCompatibles con los controladores y probadores automatizados, agilizan su proceso de validación y reducen el tiempo de inactividad.
