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Zócalo del módulo de la cámara

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El lector de memoria está apagado

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conexión de prueba de memoria

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Sireda Technology Co., Ltd.

Ciudad:shenzhen

País/Región:china

Persona de contacto:MrWang

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Zócalos de prueba de CI de validación de ingeniería ATE precisos para pruebas de preproducción

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Número de modelo :Top abierto

Lugar de origen :PORCELANA

Cantidad mínima de pedido :1

Paso :≥0.3mm

Recuento de alfileres :2-2000+

Paquetes compatibles :BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP

Tipo de zócalo :Top abierto

Tipo de conductor :Pins de sonda, Pogo Pin, PCR

Características :Muy personalizable

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Validación de ATE de alto paso y enchufes de contacto para pruebas automatizadas

NuestroCOMENTOS DE VALIDACIÓN DE INGENIERÍAyComió enchufes de contactoestán diseñados paraICS de alto paso, entrega de integridad de señal ultra precisa enentornos de prueba automatizados (ATE). Diseñado paraValidación de preproducción, pruebas de alto volumen y verificación de rendimiento, estos enchufes duraderos aseguranbaja fuerza de inserción, alta vida útil del ciclo y pérdida de señal mínima--crítico parasemiconductores avanzados, ICS automotrices y procesadores de alta velocidad.

Características clave para equipos de prueba automatizados (ATE):

Escalable para más de 500 alfileres- Admite IC complejos con diseños densos
Tecnología de contacto robusta- Pins de resortes/Pogo chapados en oro para50,000+ ciclos
Baja inductancia (<1NH) e impedancia emparejada- Esencial para las pruebas de velocidad GHZ
Diseño amigable para la automatización- Compatible con manejadores/Porters (estándar JEDEC)

Zócalos de prueba de CI de validación de ingeniería ATE precisos para pruebas de preproducción

Características y beneficios clave:

Durabilidad superior- construido para pruebas de alto ciclo con materiales robustos que resisten miles de inserciones
Compatibilidad amplia- Admite BGA, QFN, SOP y otros paquetes IC
Tecnología de contacto de precisión- sondas de primavera de baja resistencia o pines POGO para conexiones eléctricas confiables
Configuraciones personalizadas- Accesorios de prueba a medida para diseños de IC únicos y requisitos de prueba
Opciones térmicas y de alta frecuencia-Subs especializados para pruebas de quemado, alta temperatura y RF

Para obtener más opciones o solicitudes personalizadas, consulte los detalles a continuación o póngase en contacto con nuestros ingenieros.

Socket de prueba personalizado: especificaciones centrales

Propiedad	Parámetro	Valor típico
Mecánico	Ciclos de inserción	≥30k-50k ciclos
	Fuerza de contacto	20-30 g/alfiler
	Temperatura de funcionamiento	Comercial -40 ~ +125 Militar -55 ~ +130
	Tolerancia	± 0.01 mm
	Eléctrico	Resistencia de contacto	<50mΩ
Impedancia		50Ω (± 5%)
Actual		1.5a ~ 3a

Soluciones de socket de prueba de IC: pruebas de precisión para aplicaciones exigentes
Ya sea que esté validando los prototipos, la programación de ICS o la ejecución de pruebas de producción de alto volumen, nuestros enchufes de prueba personalizados aseguran precisión y repetibilidad. Diseñados para entornos desafiantes, nuestros enchufes cuentan con diseños mecánicos robustos para evitar la deformación bajo estrés térmico mientras mantienen una resistencia de contacto estable. Compatibles con manejadores y probadores automatizados, optimizan su proceso de validación al reducir el tiempo de inactividad.

Carro de la investigación 0