Zócalos de prueba de CI ATE de alto rendimiento Soluciones de precisión para pruebas de memoria

Nuestros enchufes de prueba de circuito integrado ATE de alto rendimiento están diseñados específicamente para sistemas de equipos de prueba automatizados (ATE) en las etapas de prueba final (FT), ofreciendo un rendimiento de contacto ultra confiable para la memoria,la lógica, y pruebas de producción de gran volumen.

• ✔ Optimizado para el manejo automatizado - Diseñado para una integración perfecta con los sistemas ATE de pick-and-place para maximizar el rendimiento
• ✔ Contactos de prueba de precisión - Las opciones de pin de pogo de alto ciclo o de sonda de resorte aseguran conexiones eléctricas estables a través de miles de ciclos de prueba
• ✔ Confiabilidad de la fase FT - Validación rigurosa para su uso en procesos de prueba final (FT) donde la integridad y la repetibilidad de la señal son críticas
• ✔ Memoria y producción-Listo - Ideal para DRAM, Flash, SoC, y otros IC de gran volumen que requieren validación constante

• Durabilidad superior - Construido para pruebas de alto ciclo con materiales robustos que soportan miles de inserciones
• Amplia compatibilidad - admite BGA, QFN, SOP y otros paquetes de circuitos integrados
• Tecnología de contacto de precisión - sondas de resorte de baja resistencia para conexiones eléctricas fiables
• Configuraciones personalizadas - Instalaciones de ensayo adaptadas a los diseños únicos de circuitos integrados y a los requisitos de ensayo
• Opciones térmicas y de alta frecuencia: enchufes especializados para pruebas de combustión, alta temperatura y RF

Para obtener más opciones o solicitudes personalizadas, vea los detalles a continuación o póngase en contacto con nuestros ingenieros.

Ya sea que esté validando prototipos, programando circuitos integrados, o ejecutando pruebas de producción de gran volumen, nuestras tomas de prueba personalizadas aseguran precisión y repetibilidad.Nuestros enchufes cuentan con diseños mecánicos robustos para evitar la deformación bajo tensión térmica mientras se mantiene la resistencia de contacto estableCompatibles con los controladores y probadores automatizados, agilizan su proceso de validación y reducen el tiempo de inactividad.