Solución de prueba de IC de fuerza de inserción cero del enchufe ZIF PGA de precisión de pin personalizado

NuestroTabón de prueba PGAestá diseñado para pruebas IC confiables y repetibles deMatriz de cuadrícula PIN (PGA), PGA de cerámica (CPGA) y matriz de cuadrícula de bola (BGA)paquetes. Diseñado para la durabilidad y la alta integridad de la señal, este enchufe garantiza precisoValidación, quemado y pruebas funcionalesde circuitos integrados de alto paso.

• Fuerza de inserción cero (ZIF) y opciones de baja seguimiento (LIF)- protege los delicados pines IC al tiempo que facilita la carga/descarga de dispositivos rápidos.
• Vida de alto ciclo (más de 50,000 inserciones)- Construcción robusta para confiabilidad a largo plazo en entornos de producción y laboratorio.
• Configuraciones de PIN personalizadas- Admite múltiples lanzamientos PGA (2.54 mm, 1.27 mm, etc.) y variantes BGA.
• Compatibilidad de múltiples pruebas- Funciona conPruebas funcionales, ambientales (de alta temperatura) y quemada.
• Resistencia de contacto baja (<10mΩ)- Asegura una pérdida de señal mínima para mediciones precisas.

ZIF PGA Socket vs LIF PGA Socket

Además de los enchufes de prueba PGA estándar, ofrecemos soluciones especializadas que incluyen:

BGA a PGA Masculino y Femenino Femenino

BGA a PGA Test Socket (hembra)

Enchufe PGA (hombre)

Nuestros enchufes de prueba PGA están diseñados para precisión, confiabilidad y rendimiento, entregando un valor inigualable para sus necesidades de prueba IC. He aquí por qué los ingenieros y fabricantes confían en nuestras soluciones:

Ya sea paracreación de prototipos, pruebas de quemaduras o producción en masa, nuestros enchufes PGA aseguranResultados confiables y repetibles–Pasando reducir el tiempo de inactividad y maximizar la eficiencia.