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Sireda Technology Co., Ltd.

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Casa / Productos / IC Test Sockets / Zócalos de prueba de CI de programación de tapa abierta para pruebas de semiconductores a alta temperatura /

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Categorías de Producto

Enchufes de ensayo de IC

 [13]

Conector de prueba

 [12]

Conexión de ensayo BGA

 [6]

Zócalo de prueba RF

 [2]

Encaje de elastómeros

 [2]

Conexión PGA

 [2]

conector de ensayo fpc

 [4]

Conexión de prueba DIMM

 [4]

Adaptador de prueba DDR

 [6]

Zócalo del módulo de la cámara

 [5]

El lector de memoria está apagado

 [5]

conexión de prueba de memoria

 [1]
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Sireda Technology Co., Ltd.
Ciudad:shenzhen
País/Región:china
Persona de contacto:MrWang
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Zócalos de prueba de CI de programación de tapa abierta para pruebas de semiconductores a alta temperatura
Zócalos de prueba de CI de programación de tapa abierta para pruebas de semiconductores a alta temperatura
  • Zócalos de prueba de CI de programación de tapa abierta para pruebas de semiconductores a alta temperatura
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Zócalo de prueba de programación y burn-in de tapa abierta Premium para pruebas exigentes de semiconductores Diseñado para la fiabilidad en entornos ...
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