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5x40m m modificados para requisitos particulares forman las obleas sic cristalinas 4 microprocesadores de H-N Sic Substrates

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Provincia / Estado:shanghai
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5x40m m modificados para requisitos particulares forman las obleas sic cristalinas 4 microprocesadores de H-N Sic Substrates

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Number modelo :6h-n, 4h-semi
Lugar del origen :China
Cantidad de orden mínima :1pcs
Capacidad de la fuente :100pcs/months
Plazo de expedición :10-20days
Detalles de empaquetado :Empaquetado en un ambiente del sitio limpio de la clase 100, en los casetes de solos envases de la o
material :sic cristalino
industria :oblea de semiconductor
uso :semiconductor, llevado, dispositivo, electrónica de poder, 5G
color :azul, verde, blanco
tipo :4H, 6H, DOPADO, ninguna pureza dopada, elevada
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tipo de la producción del grado del grado substratos SIMULADOS sic, substratos de 4inch dia100m 4H-N del carburo de silicio para el dispositivo de semiconductor,

4h-semi 4h-N modificó las obleas cuadradas de la forma para requisitos particulares sic

 

 

Áreas de aplicación

 

1 diodos de Schottky de los dispositivos electrónicos de alta frecuencia y del poder más elevado,

 

    JFET, BJT, PiN, diodos, IGBT, MOSFET

 

2 dispositivos optoelectrónicos: utilizado principalmente en GaN/el material sic azul del substrato del LED (GaN/sic) LED

 

Advantagement

• Unión mal hecha baja del enrejado
• Alta conductividad termal
• Bajo consumo de energía
• Características transitorias excelentes
• Alto hueco de banda

 

 

Carborundo sic cristalino de la oblea del substrato del carburo de silicio

PROPIEDADES MATERIALES DEL CARBURO DE SILICIO

 
Nombre de producto: Substrato cristalino del carburo de silicio (sic)
Descripción de producto: 2-6inch
Parámetros técnicos:
Estructura de célula Hexagonal
Enreje constante = 3,08 Å c = 15,08 Å
Prioridades ABCACB (6H)
Método del crecimiento MOCVD
Dirección Eje de crecimiento o (° parcial 0001) 3,5
Polaco Pulido de la superficie del Si
Bandgap eV 2,93 (indirecto)
Tipo de la conductividad N o seimi, pureza elevada
Resistencia 0,076 ohmio-cm
Permitividad e (11) = e (22) = 9,66 e (33) = 10,33
Conductividad termal @ 300K 5 con el cm. K
Dureza 9,2 Mohs
Especificaciones: 6H N-tipo N-tipo dia2 semiaislante “x0.33mm, dia2” x0.43mm, dia2 ' x1mmt, tiro de 10x10m m, de 10x5m m solo o tiro doble, Ra <10A de 4H
Empaquetado estándar: bolso limpio 1000 sitio limpio, 100 o solo empaquetado de la caja

 

2. los substratos clasifican de estándar

especificación del substrato del carburo de silicio de 4 pulgadas de diámetro (sic)

Grado Grado cero de MPD Grado de la producción Grado de la investigación Grado simulado
Diámetro 100,0 mm±0.5 milímetro
Grueso 350 μm±25μm (el grueso 200-500um también es aceptable)
Orientación de la oblea De eje: 4.0° hacia <1120> ±0.5° para 4H-N/4H-SI en eje: <0001>±0.5° para 6H-N/6H-SI/4H-N/4H-SI
Densidad de Micropipe cm2s ≤1 cm2s ≤5 cm2s ≤15 cm2s ≤50
Resistencia 4H-N 0.015~0.028 Ω•cm
6H-N 0.02~0.1 Ω•cm
4/6H-SI ≥1E5 Ω·cm
Plano primario y longitud {10-10} ±5.0°, 32,5 mm±2.0 milímetro
Longitud plana secundaria 18.0mm±2.0 milímetro
Orientación plana secundaria Silicio cara arriba: El 90° CW. de ±5.0° plano primero
Exclusión del borde 3 milímetros
TTV/Bow /Warp ≤15μm/≤25μm/≤40μm
Aspereza Ra≤1 polaco nanómetro, CMP Ra≤0.5 nanómetro
Grietas por la luz de intensidad alta Ninguno 1 permitida, ≤2 milímetro ≤ acumulativo 10m m, solo length≤2mm de la longitud
Placas del hex. por la luz de intensidad alta Área acumulativa el ≤1% Área acumulativa el ≤1% Área acumulativa el ≤3%
Áreas de Polytype por la luz de intensidad alta Ninguno Área acumulativa el ≤2% Área acumulativa el ≤5%
Rasguños por la luz de intensidad alta 3 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer 5 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer 5 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer
microprocesador del borde Ninguno 3 permitida, ≤0.5 milímetro cada uno 5 permitida, ≤1 milímetro cada uno
Contaminación por la luz de intensidad alta Ninguno

Sic la oblea y los lingotes 2-6inch y el otro tamaño modificado para requisitos particulares   también puede ser proporcionado.

 

 

3.Pictures de los productos de la entrega antes

5x40m m modificados para requisitos particulares forman las obleas sic cristalinas 4 microprocesadores de H-N Sic Substrates5x40m m modificados para requisitos particulares forman las obleas sic cristalinas 4 microprocesadores de H-N Sic Substrates

5x40m m modificados para requisitos particulares forman las obleas sic cristalinas 4 microprocesadores de H-N Sic Substrates5x40m m modificados para requisitos particulares forman las obleas sic cristalinas 4 microprocesadores de H-N Sic Substrates

 

5x40m m modificados para requisitos particulares forman las obleas sic cristalinas 4 microprocesadores de H-N Sic Substrates

FAQ

Q: ¿Cuáles son sus productos principales?

: obleas de semiconductor y lente óptica, espejos, ventanas, filtros, prismas

Q: ¿Cuánto tiempo es su plazo de expedición?

: En plazo de expedición general está cerca de un mes para la acción producida de encargo de optics.except unas o una cierta óptica especial.

Q: ¿Usted proporciona muestras? ¿está él libremente o adicional?

: Podemos proporcionar muestras libres si tenemos óptica comunes como su petición, mientras que las muestras producidas de encargo no están libres.

Q: ¿Cuál es su MOQ?

MOQ es 10pcs para la mayor parte de la oblea o la lente, mientras que MOQ podría ser solamente de una pieza si usted necesita un elemento en la dimensión grande.

Q: ¿Cuál es sus términos del pago?

T/T, L/C, VISA, Paypal, Alipay o negociación.

 

 

 

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