Grupo de ChongMing (HK) Co. internacional, Ltd

CHONGMING GROUP (HK) INT'L CO., LTD.

Manufacturer from China
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3 Años
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DF2B29FU, diodos de la protección de H3F TV 24VWM 47V ESD

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Grupo de ChongMing (HK) Co. internacional, Ltd
Ciudad:shenzhen
País/Región:china
Persona de contacto:MsDoris Guo
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DF2B29FU, diodos de la protección de H3F TV 24VWM 47V ESD

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Number modelo :DF2B29FUH3F
Lugar del origen :Japón
Cantidad de orden mínima :10pcs
Condiciones de pago :T/T, Western Union, Paypal
Capacidad de la fuente :10,000pcs
Plazo de expedición :en existencia 2-3days
Detalles de empaquetado :3000pcs /Reel
Descripción :47V soporte superficial USC del diodo de la abrazadera 3A (8/20µs) Ipp TV
PN :DF2B29FUH3F
Las marcas :TOSHIBA
originales :Japón
Tipo de producto :Planar epitaxial del silicio de los diodos de la protección del ESD del DIODO de las TV
Válvula de tensión :24VWM 47VC
Paquete :SOD323
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Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape. El número de unidades de producción será el siguiente:Diodos de protección ESD de silicio epitaxial planar

1.Aplicaciones• las condiciones de trabajoProtección de la DSE
Nota:Este producto está diseñado para protegerse contra descargas electrostáticas (ESD) y no está destinado a ningún otro tipo de protección.
finalidad, incluida, entre otras, la regulación del voltaje.
2. Características
(1) Calificado AEC-Q101 (nota 1)
Nota 1:
Para obtener información detallada, por favor póngase en contacto con nuestras ventas.
Nota:
El uso continuo bajo cargas pesadas (por ejemplo, la aplicación de alta temperatura/corriente/tensión y el
La reducción de la fiabilidad de este producto puede ocasionar una disminución significativa de la fiabilidad de este producto, incluso si el producto no es compatible con el mercado.
si las condiciones de funcionamiento (es decir, temperatura de funcionamiento/corriente/tensión, etc.) se encuentran dentro de los valores máximos absolutos.
Por favor, diseñe la fiabilidad apropiada al revisar el Manual de fiabilidad de semiconductores de Toshiba
("Precauciones de manipulación"/"Concepto y métodos de reducción") y datos individuales de fiabilidad (es decir, prueba de fiabilidad)
el informe y la tasa de fallas estimada, etc.).
Nota 1: de acuerdo con la norma IEC61000-4-2.
Nota 2: de acuerdo con ISO10605. (@ C = 330 pF, R = 2 kΩ)
Nota 3: de acuerdo con la norma IEC61000-4-5.
Nota 1: Basado en el pulso IEC61000-4-5 de 8/20μs.
Nota 2: Parámetro TLP: Z0 = 50Ω, tp = 100 ns, tr = 300 ps, ventana de medición: t1 = 30 ns a t2 = 60 ns,
extracción de la resistencia dinámica utilizando un ajuste de mínimos cuadrados de las características del TLP en IPP entre 8 A y 16 A.
Nota 3: Garantizada por el diseño.
Carro de la investigación 0