Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.

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Casa / Productos / GaN Epitaxial Wafer /

Sustratos SI-GaN independientes de 2 pulgadas

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Ciudad:shanghai
Provincia / Estado:shanghai
País/Región:china
Persona de contacto:Xiwen Bai (Ciel)
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Sustratos SI-GaN independientes de 2 pulgadas

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Number modelo :JDCD01-001-021
Lugar del origen :Suzhou China
Condiciones de pago :T/T
Capacidad de la fuente :10000pcs/Month
Plazo de expedición :3-4 días de la semana
Detalles de empaquetado :Envasado al vacío en un entorno de sala limpia de clase 10000, en casetes de 6 piezas o contenedores
Dimensiones :± 50,8 1 milímetro
Grueso :350 ±25µm
TTV :≤ el 10µm
Arco :μm del ≤ 20
Densidad macra del defecto :² 0cm⁻
Área usable :> el 90% (exclusión del borde)
Nombre de producto :GaN Substrates libre
Densidad de dislocación :Del ⁵ 1x 10 al ² del cm⁻ de 3 x 10 ⁶ (calculado por el CL) *
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Sustrato monocristalino de GaN autónomo de tipo SI dopado con Fe y cara C de 2 pulgadas Resistividad > 106Dispositivos RF de Ω·cm

Para reducir el portador de captura de Fe y las resistencias de lámina del gas de electrones bidimensionales generados a partir de la interfaz de AlGaN y GaN, también se optimizó la relación de espesor de las bi-epilapas de GaN dopadas con Fe y sin dopar.Se han desarrollado con éxito transistores de alta movilidad de electrones de AlGaN/GaN con la concentración de dopaje óptima de GaN dopado con Fe y el espesor adecuado de GaN no dopado.

2 pulgadasDe pieSI-GaN Ssustratos
miexcelentenivel (S) Nivel de producción (A) Nivel de investigación (B) Nivel ficticio (C)

Sustratos SI-GaN independientes de 2 pulgadas

Nota:

(1) Área utilizable: exclusión de defectos de borde y macro

(2) 3 puntos: los ángulos de corte incorrecto de las posiciones (2, 4, 5) son 0,35 ± 0,15o

S-1 S-2 A-1 A-2
Dimensión 50,8 ± 1 mm
Espesor 350 ± 25micras
Orientación plana (1-100) ± 0,5o, 16 ± 1 mm
Piso orientación secundaria (11-20) ± 3o, 8 ± 1 mm
Resistividad (300K) > 1x106Ω·cm para semiaislante (dopado con Fe; GaN-FS-C-SI-C50)
TTV ≤ 15 micras
ARCO ≤ 20 micras ≤ 40 micras
Rugosidad de la superficie de la cara Ga

< 0,2 nm (pulido)

o < 0,3 nm (pulido y tratamiento superficial para epitaxia)

N rugosidad de la superficie de la cara

0,5 ~ 1,5 micras

opción: 1~3 nm (molienda fina);< 0,2 nm (pulido)

Paquete Empaquetado en una sala limpia en un solo contenedor de obleas
Área utilizable > 90% >80% >70%
Dislocacióndensidad <9.9x105cm-2 <3x106cm-2 <9.9x105cm-2 <3x106cm-2 <3x106cm-2
Orientación: plano C (0001) fuera de ángulo hacia el eje M

0,35 ± 0,15o

(3 puntos)

0,35 ± 0,15o

(3 puntos)

0,35 ± 0,15o

(3 puntos)

Densidad de macrodefecto (agujero) 0cm-2 <0,3 cm-2 < 1cm-2
Tamaño máximo de macrodefectos < 700 micras < 2000 micras < 4000 micras

* Normas nacionales de China (GB/T32282-2015)

Sobre nosotros

Nos especializamos en el procesamiento de una variedad de materiales en obleas, sustratos y piezas de vidrio óptico personalizadas. Componentes ampliamente utilizados en electrónica, óptica, optoelectrónica y muchos otros campos.También hemos estado trabajando en estrecha colaboración con muchas universidades, instituciones de investigación y empresas nacionales y extranjeras, proporcionando productos y servicios personalizados para sus proyectos de I+D.Nuestra visión es mantener una buena relación de cooperación con todos nuestros clientes gracias a nuestra buena reputación.

Preguntas más frecuentes

P: ¿Es una empresa comercial o fabricante?
Somos fábrica.
P: ¿Cuál es su tiempo de entrega?
Generalmente es de 3 a 5 días si los productos están en stock.
o es de 7 a 10 días si los productos no están en stock, depende de la cantidad.
P: ¿Proporcionan muestras?¿Es gratis o extra?
Sí, podemos ofrecer la muestra de forma gratuita, pero no pagamos el costo del flete.
P: ¿Cuáles son sus condiciones de pago?
Pago <=5000USD, 100% por adelantado.
Paymen> = 5000 USD, 80% T/T por adelantado, saldo antes del envío.

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