Unidad de medición de origen PXIe-4143 PXI con opciones personalizables
Resumen del producto
La Unidad de Medición de la Fuente (SMU) PXIe-4143 PXI de National Instruments integra un canal versátil capaz de suministrar corriente o voltaje con punto de ajuste de 16 bits y resolución de medición.Este módulo de alto rendimiento combina las capacidades de fuente y medición en un factor de forma compacto PXI Express.
Características clave
- Canal de herramientas integrado con resolución de 16 bits para una salida de corriente o voltaje precisa
- Puede suministrar hasta 6 V y 1 A como fuente de alimentación complementaria
- Soporta pruebas de caracterización de transistores que requieren corriente/voltaje constante durante las exploraciones
- Solución eficiente en el espacio con hasta 17 módulos en un solo chasis PXI (17 canales SMU + 17 canales de potencia programables en el espacio de 4U)
- Funcionamiento en doble modo: fuente de voltaje constante o fuente de corriente constante con límites de conformidad ajustables
- Capacidad de teledetección para mejorar la precisión de las mediciones en aplicaciones de alta precisión
- Algoritmos de medición avanzados para diferentes condiciones de impedancia DUT
Especificaciones técnicas
| Parámetro |
Especificación |
| Número de la parte |
El número 782431-01 |
| Sensibilidad actual |
10 pA |
| Canales de las PYME |
4 |
| Rango de tensión |
-24 V a 24 V |
| FuenteAdaptando la tecnología |
- ¿ Qué? |
| Potencia máxima del sumidero en CC |
3.6 W |
| Potencia máxima de la fuente CC |
3.6 W |
| Rango de corriente continua |
- 150 mA a 150 mA |
| Conector de bus |
PXI Express |
Metodología de medición
El PXIe-4143 SMU emplea estrategias de medición inteligentes basadas en las características del dispositivo.Para DUT de alta impedancia, utiliza el estímulo de voltaje seguido de la medición de la respuesta de corriente.
Beneficios de la aplicación
- Ahorro significativo de espacio y costes en comparación con las soluciones de ensayo tradicionales
- Ideal para aplicaciones de ensayo paralelo que requieran múltiples canales SMU
- Mejora de la precisión de las mediciones con capacidad de teledetección
- Configuración flexible para diversos requisitos de ensayo de semiconductores