| Resistencia de aislamiento |
| gama/precisión del ajuste del voltaje de salida |
± de DC 500V/1000V (2%×setting value+10V) |
| gama de prueba de la resistencia de aislamiento/precisión |
1~500MΩ
≤100MΩ: ± (3%×setting value+0.5MΩ); >100 MΩ: ± (5%×setting value+5MΩ)
|
| gama del ajuste de alarma de la resistencia de aislamiento |
Máximo: 0~500MΩ; Minuto: 1~500MΩ |
| pruebe la gama de tiempo/la resolución |
0.5~999s 0.1s/step |
| CA Hipot |
| pruebe la gama de tiempo/la resolución |
0.5~999.9s 0.1s/step |
| Gama y precisión del ajuste del voltaje de salida |
± de la CA 200~3000V (2%×setting value+10V) |
| gama de prueba de la avería/precisión actuales |
± 0.10~20.00mA (2%×display value+0.05 mA) |
| Gama de preestablecimiento actual de la alarma de Hipot |
Máximo: 0.10~20.00mA; Minuto: 0.00~20.00mA |
| Oleada |
| gama/precisión del ajuste del voltaje de salida |
± 500~3000V (3%×display value+8V) |
| frecuencia de muestreo |
100MHz |
| comparación de la forma de onda |
área, diferencia del área, corona y fase
3 formas de onda exhibidas en el interfaz de la prueba
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| Prueba de resistencia de la bobina de DC |
| gama y precisión de prueba |
la remuneración de temperatura del ± 10.0mΩ~20KΩ (palabras de 0.3%×display value+3) puede ser fijada. |
| pruebe la gama de tiempo/la resolución |
0.5~999s 0.1s/step
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| función de la remuneración de temperatura |
Sí |
| punta de prueba/gama de la temperatura |
DS18b20 -10.0℃~+50.0℃ |
| precisión |
±0.5°C (gama: -10℃~+50℃) |
| Sin carga |
| gama y precisión de prueba del voltaje |
CA: ± 30~500V (palabra de 0.5%×display value+1) |
| gama y precisión actuales de prueba |
CA: ± 0.02~5.0A (palabras de 0.5%×display value+2) |
| gama y precisión de prueba del poder |
± 0.6-1500W (palabras de 0.5%×display value+5) |
