Laboratorio del EMC
Parte I: Descripción
Este esquema se formula en términos de prueba de compatibilidad electromágnetica de los aparatos electrodomésticos.
Este esquema conducirá pruebas según estándares tales como CISPR 11, CISPR 16-1-4, IEC 61000-3-2, inmunidad del ANSI C63.4: IEC 61000-4-2, IEC 61000-4-3, IEC 61000-4-5, IEC 61000-4-6, IEC 61000-4-8 e IEC 61000-4-11.
II. requisito de la prueba
Medida del disturbio conducido, gama de frecuencia: 148.5kHz -30MHz
Medida del disturbio irradiado, gama de frecuencia: 30MHz-6GHz
Armónicos y medida del parpadeo basada en criterios: IEC 61000-3-2/3
Medida de la inmunidad al disturbio conducido basado en estándares:
1. IEC 61000-4-2: Prueba de la inmunidad de la descarga electrostática
2. IEC 61000-4-4: Prueba estallada transitoria rápida eléctrica de la inmunidad
3. IEC 61000-4-5: Prueba de la inmunidad de la oleada (impacto)
4.IEC 61000-4-6: Inmunidad a los disturbios conducidos inducidos por los campos de la radiofrecuencia
5. IEC 61000-4-8: Prueba de la inmunidad del campo magnético de la frecuencia del poder
6. IEC 61000-4-11: Inmersiones del voltaje, interrupciones cortas y pruebas de la inmunidad de las variaciones de los voltajes
IV. composición del sistema
El sistema entero del sistema de prueba de compatibilidad electromágnetica se compone de los subsistemas siguientes:
Sistema de prueba continuo de interferencia (conducción)
Sistema de prueba irradiado del disturbio
Sistema de prueba de inmunidad a los disturbios conducidos inducidos por los campos de la radiofrecuencia
Sistema de prueba de inmunidad al disturbio conducido transitorio
Armónicos y sistema de prueba del parpadeo
La introducción detallada de cada subsistema será referida en partido II.
