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✔ Precisión a nivel de micras – Mide diámetros internos/externos (Ø0.5mm~500mm) con repetibilidad de ±5μm
✔ Dominio de la detección de defectos – Identifica:
→ Defectos de superficie (muescas, burbujas, rebabas)
→ Deformaciones de la sección transversal (puntos planos, ovalidad >0.1%)
→ Contaminación (partículas incrustadas >20μm)
✔ Imágenes multiespectrales – Combina luz visible + IR para variantes de material de silicona/NBR/FKM
Óptica: CCD de obturador global de 10MP con lente telecéntrica 5X
Rendimiento: 1.200 piezas/hora (compatible con carga automática)
Control de tolerancia: Análisis SPC automático (Cp/Cpk ≥1.67)
Salida: Expulsión de NG + registro de trazabilidad con código QR