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| El A63.7088 | |
| Resolución | 1.0nm@30KV(SE), 1.5nm@1KV(SE) |
| Magnificación | 1x~2000000x |
| Arma de electrones | Pistola de emisiones de campo Schottky |
| Válvula de tensión | Voltado de aceleración 0,02 ~ 30KV |
| Rayo de electrones | 1pA ~ 20nA |
| Sistema de vacío | 1 bomba de iones de pulverización, 1 bomba turbo molecular, 1 bomba mecánica |
| El detector | SE en la lente, SE en la sala de muestras, EEB, CCD |
| Extender el puerto | Extender los puertos en la sala de muestras para BSE, EDS, EBSD, CL, etc. |
| Etapa de la muestra | 5 EjesAuto.La velocidad de la corriente es la velocidad máxima de la corriente. |
| Especimen máximo | Sala de muestras con diámetro de 330 mm y altura de 260 mm |
| Sistema de imágenes | Imagen fija real Resolución máxima 256x256 ~ 16k ~ 16k píxeles |
| Informática y software | Estación de trabajo de PC Sistema Windows, con software de análisis de imagen profesional para controlar completamente todo el funcionamiento del microscopio SEM, ratón, teclado |
| Panel de control | Incluido |
| Dimensión y peso | Cuerpo principal 1900x1100x1800 mm, peso total 800 kg |
| Accesorios opcionales | |
| ¿Qué es eso?7091 | Limpiador de haz iónico |
| ¿Qué es eso?7092 | Lámpara de la pistola de emisión de campo |

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¿Qué es esto? ▶Diseño óptico electrónico superior ● ¿Qué es?Arma de electrones de emisión de campo térmico, haz estable, alta resolución de imágenes ● ¿Qué es?La tecnología de aceleración de tubo completo garantiza un alto rendimiento de imagen del haz de electrones a baja tensión de aceleración ● ¿Qué es?Diseño de lente compuesta de lente electrostática y lente magnética, la lente objetiva no tiene fugas magnéticas, y la obtención de imágenes de muestras magnéticas es sin preocupaciones |

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¿Qué es esto? ▶Sistema integral de recogida de señales ● ¿Qué es? Puede recoger simultáneamente señales de dos tipos de electrones secundarios, electrones dispersos y electrones transmitidos. ● ¿Qué es? El contraste de morfología y composición de la muestra se muestra simultáneamente para revelar la morfología microscópica y la información de composición de la muestra en la mayor medida posible. |






