Microscopio de fuerza atómica de nivel de enseñanza

• Nivel de enseñanza Controlador independiente y diseño del cuerpo principal, con modo de toque, objetivo 4x, diseño desmontable miniaturizado
• El cabezal de detección láser y la etapa de escaneo de muestras están integrados, la estructura es muy estable y la antiinterferencia es fuerte
• El método de alimentación de aguja inteligente de detección automática de cerámica piezoeléctrica presurizada controlada por motor protege la sonda y la muestra
• Posicionamiento óptico automático, sin necesidad de enfocar, observación en tiempo real y posicionamiento del área de escaneo de la muestra de la sonda
• Método a prueba de golpes de suspensión de resorte, simple y práctico, buen efecto a prueba de golpes
• 
• 

• ◆ El cabezal de detección láser y la etapa de escaneo de muestra están integrados, la estructura es muy estable y la antiinterferencia es fuerte

  ◆ Dispositivo de posicionamiento de sonda de precisión, el ajuste de alineación del punto láser es muy fácil

  ◆ La muestra de accionamiento de un solo eje se acerca automáticamente a la sonda verticalmente, de modo que la punta de la aguja quede perpendicular al escaneo de la muestra

  ◆ El método de alimentación de aguja inteligente de detección automática de cerámica piezoeléctrica presurizada controlada por motor protege la sonda y la muestra

  ◆ Posicionamiento óptico automático, sin necesidad de enfocar, observación en tiempo real y posicionamiento del área de escaneo de la muestra de la sonda

  ◆ Método a prueba de golpes de suspensión de resorte, simple y práctico, buen efecto a prueba de golpes

  ◆ Caja insonorizada blindada de metal, sensor de temperatura y humedad de alta precisión incorporado, monitoreo en tiempo real del entorno de trabajo

  ◆ Editor de usuario de corrección no lineal de escáner integrado, caracterización nanométrica y precisión de medición superior a 98

• 

• 

• Especificación	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Modo de trabajo	Modo de toque [Opcional] Modo de contacto Modo de fricción Modo de fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo de toque [Opcional] Modo de fricción Modo de fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo de toque [Opcional] Modo de fricción Modo de fase Modo magnético Modo electrostático	Modo de contacto Modo de toque [Opcional] Modo de fricción Modo de fase Modo magnético Modo electrostático
  Curva de espectro actual	Curva RMS-Z [Opcional] Curva de fuerza FZ	Curva RMS-Z Curva de fuerza FZ	Curva RMS-Z Curva de fuerza FZ	Curva RMS-Z Curva de fuerza FZ
  Rango de escaneo XY	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Resolución de escaneo XY	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Rango de escaneo Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Resolución de escaneo Y	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Velocidad de escaneo	0,6 Hz~30 Hz	0,6 Hz~30 Hz	0,6 Hz~30 Hz	0,6 Hz~30 Hz
  Ángulo de escaneo	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Tamaño de la muestra	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Etapa XY en movimiento	15 × 15 mm	15 × 15 mm	25×25um	25×25um
  Diseño amortiguador	Suspensión de resorte	Suspensión de resorte Caja de blindaje de metal	Suspensión de resorte Caja de blindaje de metal	-
  Sistema Óptico	4x objetivo Resolución 2.5um	4x objetivo Resolución 2.5um	10x objetivo Resolución 1um	Ocular 10x Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x Cámara digital de 5,0 m Monitor LCD de 10", con medición Iluminación LED Kohler Enfoque coaxial grueso y fino
  Producción	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Ganar XP/7/8/10	Ganar XP/7/8/10	Ganar XP/7/8/10	Ganar XP/7/8/10

• Microscopio	Microscopio optico	Microscopio electrónico	Microscopio de sonda de barrido
  Resolución máxima (um)	0.18	0.00011	0.00008
  Observación	Inmersión en aceite 1500x	Imágenes de átomos de carbono de diamante	Imágenes de átomos de carbono grafíticos de alto orden

• Interacción sonda-muestra	Señal de medida	Información
  Fuerza	Fuerza electro-estática	Forma
  Corriente del túnel	Actual	Forma, Conductividad
  Fuerza magnética	Fase	Estructura Magnética
  Fuerza electro-estática	Fase	distribución de carga

• 	Resolución	Condiciones de trabajo	Temperatura de trabajo	Daño a la muestra	Profundidad de inspección
  GDS	Nivel de átomo 0.1nm	Normal, Líquido, Vacío	Ambiente o Baja Temperatura	Ninguna	1~2 Nivel de átomo
  TEM	Punto 0.3~0.5nm Enrejado 0.1~0.2nm	alto vacío	Temperatura ambiente	Pequeña	Generalmente <100nm
  SEM	6-10nm	alto vacío	Temperatura ambiente	Pequeña	10 mm @ 10x 1um @10000x
  FIM	Nivel de átomo 0.1nm	Súper Alto Vacío	30~80K	daño	Espesor del átomo

•