8x~800000x con el detector SED+CCD, la etapa manual de cinco hachas o la etapa motorizada
Aceleración del E-haz con imagen excelente estable de la fuente actual del haz bajo baja tensión
No la muestra de la conducción se puede observar directamente ninguna necesidad de ser farfullado en la baja tensión
Interfaz fácil y amistoso de la operación, controlado todo por el ratón en el sistema de Windows
El sitio grande de la muestra con cinco hachas Eucentric motorizó la etapa de gran tamaño, Max Specimen Dia .175m m

8x-800000x Microscopio electrónico de barrido de emisión Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

A63.7080, función principal del software A63.7081
El encargar integrado de alto voltaje	Filamento automático con./desc.	Regulación potencial del cambio
Ajuste del brillo	Eléctrico al ajuste central	Brillo automático
Ajuste de contraste	Ajuste de la lente objetiva	Foco auto
Ajuste de ampliación	El desmagnetizar objetivo	Eliminación automática del astigmatismo
Modo de exploración del área seleccionada	Ajuste eléctrico de la rotación	Gestión de los parámetros del microscopio
Modo de exploración del punto	Ajuste de la dislocación del haz electrónico	Exhibición en tiempo real del tamaño de campo de exploración
Línea modo de exploración	Ajuste de la inclinación del haz electrónico	Ajuste de la lente del arma
Exploración superficial	Ajuste de la velocidad de exploración	Entrada de varios canales
Supervisión de alto voltaje del poder	Centro del oscilación	Medida de la regla

SEM	A63.7069	A63.7080	A63.7081
Resolución	3nm@30KV (SE) 6nm@30KV (EEB)	1.5nm@30KV (SE) 3nm@30KV (EEB)	1.0nm@30KV (SE) 3.0nm@1KV (SE) 2.5nm@30KV (EEB)
Ampliación	ampliación NOR exclusiva 8x~300000x	ampliación NOR exclusiva 8x~800000x	ampliación NOR exclusiva 6x~1000000x
Arma de electrón	Cartucho Pre-centrado del filamento del tungsteno	Arma de la emisión de campo de Schottky	Arma de la emisión de campo de Schottky
Voltaje	El voltaje de aceleración 0~30KV, ajustable continuo, ajusta el paso 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Visión rápida	Una función rápida dominante de la imagen de la visión	N/A	N/A
Sistema de lente	lente afilada electromágnetica de los Tres-niveles	lente afilada electromágnetica de los Multi-niveles
Abertura	3 aberturas objetivas del molibdeno, exterior ajustable del sistema del vacío, ninguna necesidad desmontan objetivo para cambiar la abertura
Sistema del vacío	1 bomba molecular de Turbo 1 bomba mecánica Sitio Vacuum>2.6E-3Pa de la muestra Sitio de arma de electrón Vacuum>2.6E-3Pa Control completamente auto del vacío Función del dispositivo de seguridad del vacío Modelo opcional: A63.7069-LV 1 bomba molecular de Turbo 2 bombas mecánicas Sitio Vacuum>2.6E-3Pa de la muestra Sitio de arma de electrón Vacuum>2.6E-3Pa Control completamente auto del vacío Función del dispositivo de seguridad del vacío Gama baja 10~270Pa del vacío para el interruptor rápido en 90 segundos para EEB (LV)	1 Ion Pump Set 1 bomba molecular de Turbo 1 bomba mecánica Sitio Vacuum>6E-4Pa de la muestra PA del sitio de arma de electrón Vacuum>2E-7 Control completamente auto del vacío Función del dispositivo de seguridad del vacío	1 farfulle a Ion Pump 1 comprador Ion Compound Pump 1 bomba molecular de Turbo 1 bomba mecánica Sitio Vacuum>6E-4Pa de la muestra PA del sitio de arma de electrón Vacuum>2E-7 Control completamente auto del vacío Función del dispositivo de seguridad del vacío
Detector	SE: Detector electrónico secundario del alto vacío (con la protección del detector)	SE: Detector electrónico secundario del alto vacío (con la protección del detector)	SE: Detector electrónico secundario del alto vacío (con la protección del detector)
	EEB: Segmentación del semiconductor 4 Detector trasero de la dispersión Modelo opcional: A63.7069-LV EEB (LV): Segmentación del semiconductor 4 Detector trasero de la dispersión	Opcional	Opcional
	CCD: Cámara CCD infrarroja	CCD: Cámara CCD infrarroja	CCD: Cámara CCD infrarroja
Amplíe portuario	2 extienda los puertos en el sitio de la muestra para EDS, DEB, WDS etc.	4 extienda los puertos en el sitio de la muestra para EEB, EDS, DEB, WDS etc.	4 extienda los puertos en el sitio de la muestra para EEB, EDS, DEB, WDS etc.
Etapa del espécimen	Etapa de 5 hachas, control manual 4 +1 autos Gama del viaje: X=70mm, Y=50mm, Z=45mm, R=360°, T=-5°~+90° (manual) Alarma del tacto y función de la parada	Etapa media auto de 5 hachas Gama del viaje: X=80mm, Y=50mm, Z=30mm, R=360°, T=-5°~+70° Alarma del tacto y función de la parada Modelo opcional: A63.7080-M 5 disminuye la etapa manual A63.7080-L 5 disminuye la etapa grande auto	Etapa grande auto de 5 hachas Gama del viaje: X=150mm, Y=150mm, Z=60mm, R=360°, T=-5°~+70° Alarma del tacto y función de la parada
Max Specimen	Dia.175mm, altura 35m m	Dia.175mm, altura 20m m	Dia.340mm, altura 50m m
Sistema de la imagen	Pixeles inmóviles reales de Max Resolution 4096x4096 de la imagen, Formato de archivo de imagen: BMP (defecto), GIF, JPG, png, TIF	Pixeles inmóviles reales de Max Resolution 16384x16384 de la imagen, Formato de archivo de imagen: TIF (defecto), BMP, GIF, JPG, png Vídeo: Expediente auto Digital. AVI Video	Pixeles inmóviles reales de Max Resolution 16384x16384 de la imagen, Formato de archivo de imagen: TIF (defecto), BMP, GIF, JPG, png Vídeo: Expediente auto Digital. AVI Video
Ordenador y software	Sistema del triunfo 10 de la estación de trabajo de la PC, con el software de análisis profesional de imagen para controlar completamente a SEM Microscope Operation entero, especificación I5 no menos que inter 3.2GHz, 4G memoria, 24" del ordenador monitor LCD del IPS, 500G disco duro, ratón, teclado
Exhibición de la foto	El nivel de la imagen es Rich And Meticulous, mostrando la ampliación en tiempo real, regla, voltaje, Gray Curve
Dimensión Y peso	Cuerpo del microscopio 800x800x1850m m Cuadro de funcionamiento 1340x850x740m m Peso total 400Kg	Cuerpo del microscopio 800x800x1480m m Cuadro de funcionamiento 1340x850x740m m Peso total 450Kg	Cuerpo del microscopio 1000x1000x1730m m Cuadro de funcionamiento 1330x850x740m m Peso total 550Kg
Accesorios opcionales
Accesorios opcionales	Espectrómetro de radiografía dispersivo de la energía de A50.7002 EDS A50.7011 Ion Sputtering Coater	Parte posterior de la EEB A50.7001 que dispersa el detector electrónico Espectrómetro de radiografía dispersivo de la energía de A50.7002 EDS A50.7011 Ion Sputtering Coater A50.7030 motorizan el panel de control	Parte posterior de la EEB A50.7001 que dispersa el detector electrónico Espectrómetro de radiografía dispersivo de la energía de A50.7002 EDS A50.7011 Ion Sputtering Coater A50.7030 motorizan el panel de control

A50.7001	Detector de la EEB	Detector trasero de la dispersión del segmento del semiconductor cuatro; Disponible en los ingredientes A+B, A-B de la información de la morfología; La muestra disponible observa sin oro de la farfulla; Disponible adentro observe la impureza y la distribución del mapa del Grayscale directamente.
A50.7002	EDS (X Ray Detector)	Ventana del nitruro de silicio (Si3N4) para optimizar la transmisión de la radiografía de la energía baja para el análisis ligero del elemento; Resolución excelente y su electrónica de poco ruido avanzada proporcionar funcionamiento excepcional de la producción; La pequeña huella ofrece flexibilidad para asegurar condiciones ideales de la geometría y de la colección de Aata; Los detectores contienen un microprocesador 30mm2.
A50.7003	EBSD (difracción retrorreflejada del haz electrónico)	el usuario podría la orientación cristalina del análisis, la fase cristalina y textura micro de materiales y funcionamiento relacionado de los materiales, etc. optimización automática de los ajustes de la cámara de EBSD durante la recopilación de datos, haga el análisis en tiempo real interactivo para obtener la información máxima todos los datos fueron calificados con la etiqueta del tiempo, que se puede ver en cualquier momento alta resolución 1392 x X12 1040 Velocidad de la exploración y del índice: 198 puntos/sec, con el Ni como el estándar, bajo condición de 2~5nA, puede asegurar la tarifa el ≥99% del índice; trabajos bien bajo condición de la tensión actual y baja baja del haz de 5kV en 100pA exactitud de medición de la orientación: Mejor de 0,1 grados Usando sistema triple del índice: ninguna necesidad confiar en la sola definición de la banda, indexación de direcciones fácil de la calidad pobre del modelo base de datos dedicada: Base de datos especial de EBSD obtenida por la difracción de electrón: estructura de la fase >400 Ponga en un índice la capacidad: puede poner en un índice automáticamente todos los materiales cristalinos de 7 sistemas cristalinos. Las opciones avanzadas incluyen el cálculo de la tiesura elástico (tiesura elástico), factor de Taylor (Taylor), factor de Schmidt (Schmid) y así sucesivamente.
A50.7010	Máquina de capa	Shell de protección de cristal: ∮250mm; 340m m altos; Cámara de proceso de cristal: ∮88mm; alto de 140m m, ∮88mm; 57m m altos; Tamaño de la etapa del espécimen: ∮40mm (máximo); Sistema del vacío: bomba del molecula y bomba mecánica; Detección del vacío: Indicador de Pirani; Vacío: mejor de PA 2 x 10-3; Protección del vacío: PA 20 con la válvula de la inflación de la microescala; Movimiento del espécimen: Rotación plana, precedencia de la inclinación.
A50.7011	Ion Sputtering Coater	Cámara de proceso de cristal: ∮100mm; 130m m alto; Tamaño de la etapa del espécimen: ∮40mm (tazas del espécimen del control 6); Tamaño de oro de la blanco: ∮58mm*0.12mm (grueso); Detección del vacío: Indicador de Pirani; Protección del vacío: PA 20 con la válvula de la inflación de la microescala; Gas medio: argón o aire con la entrada de aire especial del gas del argón y gas que regula en microescala.
A50.7012	Argón Ion Sputtering Coater	La muestra fue plateada con el carbono y el oro bajo alto vacío; Tabla rotativa de la muestra, capa uniforme, tamaño de partícula sobre 3-5nm; Ninguna selección de material de blanco, ningún daño a las muestras; Las funciones de Ion Cleaning And Ion Thinning pueden ser observadas.
A50.7013	Secador del punto crítico	Diámetro interno: 82m m, longitud interna: 82m m; Gama de presión: 0-2000psi; Gama de temperaturas: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014	Litografía de haz electrónico	De acuerdo con el microscopio electrónico de exploración, un sistema nuevo de la Nano-exposición fue desarrollado; El Modificaton ha guardado todos la línea imagen de Sem Functions For Making Nanoscale de la anchura; El sistema Widly de Modificated Ebl aplicado en los dispositivos microelectrónicos, dispositivos optoelectrónicos, dispositivos de Quantun, sistema R&d. de la microelectrónica.

A63.7080, equipo estándar de los materiales consumibles A63.7081
1	Filamento de la emisión de campo	Instalado en microscopio	1 PC
2	Taza de la muestra	Dia.13mm	5 PC
3	Taza de la muestra	Dia.32mm	5 PC
4	Cinta conductora de doble cara del carbono	6m m	1 paquete
5	Grasa del vacío		10 PC
6	Paño sin pelo		1 tubo
7	Goma de pulido		1 PC
8	Caja de la muestra		2 bolsos
9	Esponja de algodón		1 PC
10	Filtro de la niebla del aceite		1 PC
Las herramientas A63.7080, A63.7081 y las piezas estándar equipan
1	Llave inglesa interna del hexágono	1.5mm~10m m	1 sistema
2	Pinzas	Longitud 100-120m m	1 PC
3	Destornillador ranurado	250m m, 2125m m	2 PC
4	Destornillador cruzado	2*125mmm	1 PC
5	Tubo limpio del respiradero	Dia.10/6.5mm (hacia fuera diámetro/diámetro interno)	los 5m
6	Válvula manorreductora del respiradero	Presión 0-0.6MPa de la salida	1 PC
7	Fuente de alimentación que cuece interna	0-3A DC	2 PC
8	Fuente de alimentación de UPS	10kVA	2 PC

8x-800000x Microscopio electrónico de barrido de emisión Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

microscopio óptico compuesto

Microscopio óptico estéreo

Microscopio óptico de Digitaces

Microscopio digital de LCD

Microscopio biológico

microscopio óptico metalúrgico

Microscopio de exploración

Microscopio óptico invertido

Microscopio ligero de polarización

Microscopio de fluorescencia

microscopio multi de la visión

Microscopio de comparación forense

Microscopio del contraste de la fase

microscopio de la joyería

Microscopio Accesorios

Telescopio que se refracta astronómico

Microscopio de funcionamiento quirúrgico

microscopio motorizado

8x-800000x Microscopio electrónico de barrido de emisión Schottky Gun A63.7080 Std Feg Sem

browning 9mm high power

635 nm laser

266 nm laser