4.5 - alta topografía superficial Eco SEM del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 6nm
La microscopia electrónica de exploración (sem) es conveniente para la observación de la topografía superficial de metales, de la cerámica, de semiconductores, de minerales, de la biología, de polímeros, de compuestos y de materiales unidimensionales, bidimensionales y tridimensionales de la nano-escala (imagen de electrón secundario, imagen de electrón retrorreflejada). Puede ser utilizada para analizar los componentes del punto, de la línea y de la superficie del microregion. Es ampliamente utilizada en petróleo, la geología, el campo mineral, la electrónica, el campo del semiconductor, la medicina, el campo de la biología, la industria química, el campo de material de polímero, la investigación penal de la seguridad pública, la agricultura, la silvicultura y otros campos.
| Filamento SEM del tungsteno de A63.7062 Eco |
| Resolución | 4.5nm@30KV (SE); 6nm@30KV (EEB) |
| Ampliación | Ampliación negativa: 15x~250000x; Ampliación de la pantalla: 30x~500000x |
| Arma de electrón | El cátodo-Pre calentado tungsteno centró el filamento Carteidge del tungsteno |
| Voltaje de aceleración | 0~30KV |
| Sistema de lente | Lente electromágnetica de tres niveles (lente afilada) |
| Abertura objetiva | Abertura del molibdeno ajustable fuera de sistema del vacío |
| Etapa del espécimen | Etapa de cinco hachas |
| Gama del viaje | X (auto) | 0~50m m |
| Y (auto) | 0~50m m |
| Z (manual) | 0~25m m |
| R (manual) | 360º |
| T (manual) | -5º~90º |
| Max Specimen Diameter | 150m m |
| Detector | Detector electrónico secundario del alto vacío (con la protección del detector) |
| Modificación | Mejora de la etapa; EBL; STM; AFM; Etapa de calefacción; Etapa de Cryo; Etapa extensible; manipulante Micro-nano; Máquina de SEM+Coating; SEM+Laser |
| Accesorios | CCD, laboratorio6, detectorde laradiografía(EDS), EBSD, CL, WDS, máquinadecapa |
| Sistema del vacío | Bombas moleculares de Turbo; Bomba de la rotación |
| Corriente del haz electrónico | 10pAt~0.1μA |
| PC | Dell Work Station modificado para requisitos particulares |
Información de compañía
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