Chips CI programados originales 256K 32K X 8 memoria Flash AT29C256 de 5 voltios solamente Cmos
256K (memoria Flash de cinco voltios AT29C256 de 32K x 8) solamente
Características
• Tiempo rápido del acceso de lectura – 70 ns
• solamente reprogramación de cinco voltios
• Operación del programa de la página
– El solo ciclo reprograma (borrado y el programa)
– Cierres de la dirección interna y de datos para 64 bytes
• Control y contador de tiempo de programa interno
• Protección de datos del soporte físico y del software
• Duraciones de ciclo rápidas de programa
– Tiempo del programa de la página (byte 64) – ms 10
– Tiempo del borrado del microprocesador – ms 10
• Interrogación de los DATOS para el final de la detección del programa
• Disipación de baja potencia
– corriente activa de 50 mA
– corriente espera de 300 µA Cmos
• Resistencia típica > 10.000 ciclos
• Sola 5V fuente del ± el 10%
• Cmos y entradas y salidas compatibles de TTL
• Gamas de temperaturas comerciales e industriales
Descripción
El AT29C256 es una memoria sólo para leer programable y borrable del flash del en-sistema de cinco-voltio-solamente (PEROM). Su 256K de la memoria es organizado como 32.768 palabras por 8 pedazos. Fabricado con la tecnología permanente avanzada del Cmos de Atmel, el dispositivo ofrece tiempos de acceso a 70 ns con la disipación de poder de apenas 275 mW. Cuando se no reelige como candidato el dispositivo, la corriente espera del Cmos es menos del µA 300. La resistencia del dispositivo es tal que cualquier sector se puede escribir típicamente superior a 10.000 veces.
Tipos de conexión
| Nombre de Pin |
Función |
| A0 - A14 |
Direcciones |
| CE |
El microprocesador permite |
| OE |
La salida permite |
| NOSOTROS |
Escriba permiten |
| I/O0 - I/O7 |
Entradas de datos/salidas |
| NC |
Ningún conecte |
| DC |
No conecte |
Opinión superior de PLCC y de LCC
Nota: Los pernos 1 y 17 del paquete de PLCC son NO CONECTAN.
Tipo 1 de la opinión superior de TSOP
Para permitir reprogrammability simple del en-sistema, el AT29C256 no requiere los altos voltajes de entrada para programar. los comandos de Cinco-voltio-solamente determinan la operación del dispositivo. La lectura de datos fuera del dispositivo es similar a la lectura en RAM estático. La reprogramación del AT29C256 se realiza sobre una base de la página; 64 bytes de datos se cargan en el dispositivo y después se programan simultáneamente. El contenido del dispositivo entero se puede borrar usando un seis-byte codifica en software (aunque la borradura antes de programar no es necesaria). Durante un ciclo de la reprogramación, las ubicaciones de la dirección y 64 bytes de datos internamente están trabados, liberando el ómnibus de la dirección y de datos para otras operaciones. Después de la iniciación de un ciclo de programa, el dispositivo borrará automáticamente la página y después programará los datos trabados usando un contador de tiempo del control interno. El extremo de un ciclo de programa se puede detectar por la interrogación de los DATOS de I/O7. Una vez el extremo de un ciclo de programa se ha detectado un nuevo acceso para haber leído, programa o el borrado del microprocesador puede comenzar.
Bloque diagrama
Ratings* máximo absoluto
Temperatura bajo prejuicio ................................ -55°C a +125°C
Temperatura de almacenamiento ..................................... -65°C a +150°C
Todos los voltajes de entrada (pernos incluyendo del NC)
en cuanto a la tierra ................................... - 0.6V a +6.25V
Todos los voltajes de salida
en cuanto a la tierra ............................. - 0.6V a VCC + 0.6V
Voltaje en OE
en cuanto a la tierra ................................... - 0.6V a +13.5V
*NOTICE: Las tensiones más allá de ésas enumeradas bajo “grados máximos absolutos” pueden causar daño permanente al dispositivo. Esto es una tensión que valora solamente y la operación funcional del dispositivo en éstos o de ninguna otra condiciones más allá de ésos indicados en las secciones operativas de esta especificación no se implica. La exposición a las condiciones del grado máximo absoluto por períodos extendidos puede afectar a confiabilidad del dispositivo.
