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Instrumento de Medición de Curvas de Histéresis para Investigación Científica
Utilizando el efecto magneto-óptico de Kerr, este instrumento proporciona una caracterización de alta precisión del magnetismo en materiales ferromagnéticos, antiferromagnéticos artificiales, materiales 2D y dispositivos microelectrónicos. Puede escanear simultáneamente campos magnéticos en el plano y fuera del plano para obtener curvas de histéresis para cualquier combinación de campos magnéticos en el plano/fuera del plano y componentes en el plano/fuera del plano. Con una precisión de detección del ángulo de Kerr de hasta 0.3 mdeg (RMS), puede detectar la fuerza de magnetización de capas de un solo átomo y proporciona un soporte de muestra inclinable para la caracterización de propiedades eléctricas/magneto-ópticas.
Indicador de Rendimiento del Equipo | Descripción |
---|---|
Resolución del Ángulo de Kerr | 0.3 mdeg (RMS) |
Campo Magnético en el Plano | 1 T@hueco de aire 8 mm; 0.5 T@hueco de aire 16 mm |
Campo Magnético Vertical | 1 T@hueco de aire 7 mm; 0.5 T@hueco de aire 16 mm |
Resolución del Campo Magnético | Regulación de retroalimentación de bucle cerrado PID, resolución 0.02 mT |
Etapa de Desplazamiento Multi-Eje | Alineación láser automática X, Y, θ,φ |
Funciones de Prueba | Control conveniente y preciso de la salida del campo magnético; realización del escaneo de la curva de histéresis longitudinal y polar, corrección y normalización automáticas de las curvas de histéresis, y extracción automática de los parámetros del ángulo de Kerr saturado y del campo coercitivo. |