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Truth Instruments Co., Ltd.

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Casa / Productos / Atomic Force Microscope / Microscopio de fuerza atómica de 0.04 nm, 0.1 Hz - 30 Hz, microscopio AFM para análisis preciso de superficies a nanoescala /

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Microscopio Kerr

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Magnetómetro de muestra vibrante

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Estación de sonda criogénica

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Truth Instruments Co., Ltd.
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Provincia / Estado:shandong
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Microscopio de fuerza atómica de 0.04 nm, 0.1 Hz - 30 Hz, microscopio AFM para análisis preciso de superficies a nanoescala
Microscopio de fuerza atómica de 0.04 nm, 0.1 Hz - 30 Hz, microscopio AFM para análisis preciso de superficies a nanoescala
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Microscopio de Fuerza Atómica para Análisis Preciso de Superficies a Nanoescala Descripción del Producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un ...
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