Truth Instruments Co., Ltd.
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Microscopio de fuerza atómica todo en uno para una operación flexible y precisa
El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una herramienta de vanguardia diseñada para la medición y el análisis eléctricos a nanoescala.Este instrumento avanzado ofrece capacidades incomparables en escaneo e imágenes a escala nanométrica, lo que lo convierte en un dispositivo esencial para los investigadores y científicos que trabajan en diversos campos.
Atributos clave del producto:
El microscopio de la fuerza atómica se destaca por su excepcional rango de escaneo de 100 μm en las direcciones X y Y, y 10 μm en la dirección Z.Este amplio rango de escaneo permite obtener imágenes detalladas y completas de las muestras a escala nanométrica, proporcionando a los investigadores información valiosa sobre las características y propiedades de la superficie.
Con un nivel de ruido de sólo 0,04 Nm en la dirección Z y 0,4 Nm en la dirección XY, el AFM garantiza una alta precisión y exactitud en las mediciones,lo que lo hace ideal para aplicaciones exigentes que requieren una adquisición de datos confiable.
El método de escaneo del AFM emplea el escaneo de muestras completas de tres ejes XYZ, lo que permite a los usuarios explorar muestras desde múltiples ángulos y direcciones con facilidad.Este enfoque de escaneo versátil facilita el análisis integral de las superficies de las muestras, lo que la convierte en una herramienta valiosa para una amplia gama de aplicaciones de investigación.
Además, el AFM cuenta con una excelente linealidad, con solo un 0,02% de no linealidad en la dirección XY y un 0,08% de no linealidad en la dirección Z.Este alto nivel de linealidad garantiza que las mediciones y los resultados de las imágenes sean muy precisos y confiables, lo que permite a los investigadores interpretar con confianza sus datos.
En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica es una solución AFM todo en uno que ofrece capacidades de escaneo excepcionales, bajos niveles de ruido, métodos de escaneo precisos,y excelente linealidad tanto en las direcciones XY y ZCon sus características avanzadas y diseño de vanguardia, el AFM es una herramienta imprescindible para investigadores y científicos que realizan mediciones y análisis eléctricos a nanoescala.
| Rango de exploración | Se aplicarán las siguientes medidas: |
| No linealidad | 00,02% en la dirección XY y 0,08% en la dirección Z. |
| Nivel de ruido en la dirección Z | 0.04 Nm |
| Método de escaneo | XYZ Escaneo completo de muestras en tres ejes |
| Nivel de ruido en la dirección XY | 0.4 Nm |
| Tamaño de la muestra | 25 mm |
| Velocidad de exploración | 0.1 a 30 Hz |
El modelo AtomEdge Pro del microscopio de fuerza atómica (AFM) de Truth Instruments es un instrumento de última generación diseñado para satisfacer las altas demandas de la investigación científica y las aplicaciones industriales.De origen en China, este avanzado AFM ofrece medidas precisas y capacidades de imagen para una amplia gama de aplicaciones.
El AtomEdge Pro es ideal para varias ocasiones y escenarios de aplicación de productos debido a sus características excepcionales:
Una de las características más destacadas del AtomEdge Pro es su capacidad para operar en el Modo de toque, una técnica popular en AFM que minimiza el daño a las muestras y proporciona imágenes de alta resolución.Este modo es particularmente útil en la investigación de materiales biológicos y blandos, donde es esencial obtener imágenes suaves..
Ya sea en laboratorios de investigación, instituciones académicas o entornos industriales, el AtomEdge Pro encuentra su aplicación en varios escenarios:
Con sus capacidades avanzadas e ingeniería de precisión,El AtomEdge Pro de Truth Instruments es un microscopio de fuerza de escaneo confiable y versátil que satisface las diversas necesidades de la investigación moderna y la industria.