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Truth Instruments Co., Ltd.

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Casa / Productos / Atomic Force Microscope / Microscopio de alta fuerza de escaneo 0.15 Nm Microscopio de alta resolución para Wafe /

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Microscopio de fuerza atómica

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Microscopio Kerr

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Magnetómetro de muestra vibrante

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Criostato óptico magneto

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Estación de sonda criogénica

 [15]

Probador MRAM

 [8]

Estación de sonda magnética

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Persona de contacto:MrAlex TANG
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Microscopio de alta fuerza de escaneo 0.15 Nm Microscopio de alta resolución para Wafe
Microscopio de alta fuerza de escaneo 0.15 Nm Microscopio de alta resolución para Wafe
  • Microscopio de alta fuerza de escaneo 0.15 Nm Microscopio de alta resolución para Wafe
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Microscopio de Fuerza de Barrido Alto Para Wafe Descripción del producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia ...
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