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Microscopio de Fuerza Atómica Avanzado para Imágenes de Alta Resolución
El Microscopio de Fuerza Atómica es una herramienta de vanguardia diseñada para imágenes de alta resolución y análisis a nanoescala. Con un rango de escaneo de 100 μm X 100 μm X 10 μm, este AFM ofrece capacidades de imagen con resolución atómica que son esenciales para una amplia gama de aplicaciones de investigación.
Equipado con múltiples modos de imagen, incluyendo Contacto, Tapping, No Contacto, Fuerza Lateral, Modulación de Fuerza e Imagen de Fase, este AFM proporciona opciones versátiles para capturar la topografía y las propiedades de la superficie detalladas de diversas muestras.
Una de las características clave de este Microscopio de Fuerza Atómica es su capacidad para acomodar tamaños de muestra de hasta 200 mm, lo que permite el análisis de una amplia gama de materiales y estructuras. Ya sea que esté estudiando muestras biológicas, nanomateriales o películas delgadas, este AFM ofrece la flexibilidad para manejar diversos tipos de muestras con facilidad.
Con un rango de ángulo de escaneo de 0-360°, los usuarios pueden controlar con precisión la orientación y el posicionamiento de la sonda para capturar imágenes detalladas desde diferentes perspectivas. Esta funcionalidad es particularmente útil para examinar muestras con geometrías o estructuras complejas que requieren imágenes desde múltiples ángulos.
El Microscopio de Fuerza Atómica admite varios tipos de sonda, incluyendo Silicio, Diamante, Oro, Platino y sondas de Nanotubos de Carbono, lo que brinda a los usuarios la flexibilidad de elegir la sonda más adecuada para sus requisitos experimentales específicos. Ya sea que necesite alta sensibilidad para muestras blandas o mayor durabilidad para aplicaciones exigentes, este AFM ofrece una gama de opciones de sonda para satisfacer sus necesidades.
En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica es una herramienta poderosa para el análisis a nanoescala, que ofrece capacidades de imagen con resolución atómica y una gama versátil de modos de imagen. Con sus características avanzadas y opciones de sonda personalizables, este AFM proporciona a los investigadores las herramientas que necesitan para explorar y caracterizar una amplia gama de materiales y estructuras con precisión y exactitud.
| Tamaño de la Muestra | Hasta 200 mm |
| Resolución | 0.15 nm |
| Rango de Escaneo | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| Tipo de Sonda | Silicio, Diamante, Oro, Platino, Nanotubo de Carbono |
| Modos de Imagen | Contacto, Tapping, No Contacto, Fuerza Lateral, Modulación de Fuerza, Imagen de Fase |
| Ángulo de Escaneo | 0-360° |
El Microscopio de Fuerza Atómica AtomMax de Truth Instruments, originario de China, es una herramienta versátil diseñada para imágenes de alta resolución y mediciones precisas en diversas aplicaciones científicas e industriales.
Con modos de imagen que incluyen Contacto, Tapping, No Contacto, Fuerza Lateral, Modulación de Fuerza e Imagen de Fase, el AtomMax ofrece capacidades de medición multimodo adecuadas para una amplia gama de tipos de muestras y condiciones de superficie. Ya sea que se analicen muestras biológicas, polímeros, películas delgadas o nanomateriales, este AFM se adapta a diferentes necesidades de imagen con precisión de resolución atómica.
El AtomMax acomoda tamaños de muestra de hasta 200 mm, lo que brinda flexibilidad para estudiar muestras macroscópicas al tiempo que ofrece la alta resolución requerida para un análisis detallado. Su rango de escaneo de 100 μm x 100 μm x 10 μm permite la obtención de imágenes completas de muestras con topografías y dimensiones variables.
Equipado con opciones de sonda como Silicio, Diamante, Oro, Platino y Nanotubo de Carbono, el AtomMax permite a los usuarios adaptar su enfoque de imagen en función de las propiedades de la muestra y los niveles de resolución deseados. La resolución de 0.15 nm asegura que incluso las características más pequeñas de una muestra se puedan capturar y analizar con precisión.
Ocasiones y escenarios de aplicación del producto: