Truth Instruments Co., Ltd.
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Microscopio de sonda de barrido de alta precisión, resolución de 0,15 nm
El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia que ofrece capacidades excepcionales para el análisis de superficies con resolución nanométrica. Con un rango de escaneo de 100 μm X 100 μm X 10 μm, este producto AFM proporciona imágenes y mediciones precisas de muestras con dimensiones de hasta 200 mm.
Una de las características clave de este AFM es su versatilidad en los tipos de sonda. Los usuarios pueden elegir entre una variedad de materiales de sonda, incluyendo silicio, diamante, oro, platino y sondas de nanotubos de carbono, lo que permite enfoques adaptados a diferentes tipos de muestras y necesidades de imagen.
En cuanto a los modos de imagen, el microscopio de fuerza atómica destaca por ofrecer múltiples opciones para adaptarse a diversas aplicaciones. Los modos de imagen disponibles incluyen el modo de contacto para imágenes topográficas de alta resolución, el modo de tapping para imágenes suaves de muestras delicadas, el modo sin contacto para el análisis de superficies no invasivo, el modo de fuerza lateral para el mapeo de fricción, el modo de modulación de fuerza para el mapeo de propiedades mecánicas y el modo de imagen de fase para imágenes de contraste mejorado.
Con una notable resolución de 0,15 nm, este producto AFM garantiza imágenes detalladas y precisas de muestras a nivel de nanoescala. Los investigadores y científicos pueden confiar en este instrumento de precisión para investigar las propiedades de la superficie, caracterizar materiales y estudiar nanoestructuras con alta claridad y resolución.
En resumen, el microscopio de fuerza atómica ofrece capacidades sin precedentes en el análisis de superficies con resolución nanométrica. Su amplio rango de escaneo, la compatibilidad con varios tipos de sonda, los versátiles modos de imagen y la excepcional resolución lo convierten en una herramienta valiosa para la investigación científica, el análisis de materiales y las aplicaciones de nanotecnología.
| Modos de imagen | Contacto, Tapping, Sin contacto, Fuerza lateral, Modulación de fuerza, Imagen de fase |
| Ángulo de escaneo | 0-360° |
| Tamaño de la muestra | Hasta 200 mm |
| Rango de escaneo | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| Resolución | 0,15 nm |
| Tipo de sonda | Silicio, Diamante, Oro, Platino, Nanotubo de carbono |
Truth Instruments presenta el microscopio de fuerza atómica AtomMax, un instrumento de vanguardia diseñado y fabricado en CHINA. Este avanzado microscopio de sonda de barrido ofrece una amplia gama de aplicaciones en varios campos debido a sus excepcionales características y capacidades.
Ocasiones y escenarios de aplicación del producto:
1. Investigación en nanotecnología: El AtomMax es ideal para la investigación en nanotecnología en instituciones académicas y laboratorios de investigación. Los investigadores pueden utilizar los diferentes tipos de sonda, incluyendo silicio, diamante, oro, platino y nanotubos de carbono, para estudiar materiales a nivel de nanoescala.
2. Ciencia de materiales: Los modos de imagen de alta resolución, como Contacto, Tapping, Sin contacto, Fuerza lateral, Modulación de fuerza e Imagen de fase, hacen que el AtomMax sea adecuado para aplicaciones de ciencia de materiales. Puede analizar las propiedades de la superficie, los defectos y las estructuras de varios materiales.
3. Industria de semiconductores: En la industria de semiconductores, el AtomMax juega un papel crucial en el análisis de materiales y dispositivos semiconductores. Su rango de escaneo de 100 μm X 100 μm X 10 μm y su ángulo de escaneo de 0-360° permiten mediciones e imágenes precisas de componentes semiconductores.
4. Investigación biológica: Los investigadores en el campo de la biología pueden beneficiarse del AtomMax para estudiar muestras biológicas a nanoescala. La alta resolución de 0,15 nm permite obtener imágenes detalladas de estructuras e interacciones biológicas.
5. Análisis de superficies: Ya sea en investigación académica o en aplicaciones industriales, el AtomMax se puede utilizar para el análisis de superficies de diversos materiales. Sus versátiles modos de imagen proporcionan información sobre la rugosidad de la superficie, la adhesión y las propiedades mecánicas.
En general, el microscopio de fuerza atómica AtomMax de Truth Instruments es un instrumento versátil y de alto rendimiento adecuado para una amplia gama de aplicaciones. Sus características y capacidades avanzadas lo convierten en una herramienta indispensable para investigadores y profesionales que trabajan en campos como la nanotecnología, la ciencia de materiales, los semiconductores y la investigación biológica.